大豆植株叶面积指数检测方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN119152014A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411188087.X

    申请日:2024-08-28

    Abstract: 本申请涉及一种大豆植株叶面积指数检测方法、装置、设备及介质,方法包括:根据大豆叶子区域中的像素点个数以及大豆叶子区域中每个像素点的面积确定大豆植株垂直投影面积;计算确定垂直于地面视角下的体密度图与掩码图像之间的乘积以确定大豆植株所有叶子的像素值,根据大豆植株所有叶子的像素值以及大豆叶子区域中每个像素点的面积确定无遮挡状态下所有叶子的垂直投影面积总和;基于无遮挡状态下所有叶子的垂直投影面积总和以及大豆植株垂直投影面积确定大豆植株的叶面积指数。本申请能够显著降低成本的同时,还能够大大提高叶面积指数的检测精度。

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