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公开(公告)号：CN111366841B
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202010264339.8
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181 , G05B23/02
Abstract: 本发明的目的是提供一种FPGA可编程逻辑单元测试设备及使用方法，用于对FPGA芯片中的CLB进行功能和性能的全覆盖测试且实现测试系统的低成本、小型化，基于PCIE工控机平台，在工控机内部集成3U PCIE电源模块作为待测FPGA的CLB测试时候的可控电源用于电源方面参数测试；3U PCIE示波器模块测试CLB交直流模拟参数；在CLB测试板载硬件平台上的激励FPGA内部集成误码测试模块以满足CLB功能测试需求；利用激励FPGA内部的时钟模块产生可变时钟，满足CLB测试时对参考时钟的需求从而完成对FPGA上CLB的全功能、全性能测试，实现测试的低成本、小型化。
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公开(公告)号：CN111398795A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010264035.1
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明的目的是提供一种FPGA内部DSP单元测试设备及使用方法，用于对FPGA芯片内部的DSP单元进行功能、性能的全覆盖测试且实现测试系统的低成本、小型化，基于PXI工控机平台，在工控机内部集成3U PXI可编程码型发生器模块作为时钟源，3U PXI电源模块作为FPGA内部数字信号处理单元电路DSP测试时候的可控电源，3U PXI示波器模块测试DSP交直流模拟参数，自行研发的低成本FPGADSP电路测试PCB硬件平台，在PXI工控机中，基于PXI总线实现测试模块，测试PCB硬件平台间的通信，基于LABVIEW软件环境，设计集成DSP电路测试软件实现DSP的全功能全性能测试，实现测试的低成本、小型化。
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公开(公告)号：CN111338326A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010263048.7
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种FPGA通用IO接口测试的设备和方法，包括工控机和测试硬件平台；所述的测试硬件平台包括电源模块电路、信号源模块电路、测试夹具、激励FPGA1，A/D采集模块电路、控制CPU、LAN接口电路和IO性能测试接口电路。本发明通过工控机作为系统上位机，同时通过下位机CPU控制信号源电路模块产生同源时钟系统时钟，激励FPGA1中的并行配置控制器加载待测试FPGA2测试用例，激励FPGA1中的测试向量随待测试FPGA2测试用例而变化，从而实现FPGA芯片通用IO接口研制和筛选抽测阶段的一种全功能，关键性能参数测试，低成本且有效的测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111338326B
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202010263048.7
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种FPGA通用IO接口测试的设备和方法，包括工控机和测试硬件平台；所述的测试硬件平台包括电源模块电路、信号源模块电路、测试夹具、激励FPGA1，A/D采集模块电路、控制CPU、LAN接口电路和IO性能测试接口电路。本发明通过工控机作为系统上位机，同时通过下位机CPU控制信号源电路模块产生同源时钟系统时钟，激励FPGA1中的并行配置控制器加载待测试FPGA2测试用例，激励FPGA1中的测试向量随待测试FPGA2测试用例而变化，从而实现FPGA芯片通用IO接口研制和筛选抽测阶段的一种全功能，关键性能参数测试，低成本且有效的测试。
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公开(公告)号：CN111398795B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202010264035.1
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明的目的是提供一种FPGA内部DSP单元测试设备及使用方法，用于对FPGA芯片内部的DSP单元进行功能、性能的全覆盖测试且实现测试系统的低成本、小型化，基于PXI工控机平台，在工控机内部集成3U PXI可编程码型发生器模块作为时钟源，3U PXI电源模块作为FPGA内部数字信号处理单元电路DSP测试时候的可控电源，3U PXI示波器模块测试DSP交直流模拟参数，自行研发的低成本FPGADSP电路测试PCB硬件平台，在PXI工控机中，基于PXI总线实现测试模块，测试PCB硬件平台间的通信，基于LABVIEW软件环境，设计集成DSP电路测试软件实现DSP的全功能全性能测试，实现测试的低成本、小型化。
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公开(公告)号：CN111366841A
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN202010264339.8
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181 , G05B23/02
Abstract: 本发明的目的是提供一种FPGA可编程逻辑单元测试设备及使用方法，用于对FPGA芯片中的CLB进行功能和性能的全覆盖测试且实现测试系统的低成本、小型化，基于PCIE工控机平台，在工控机内部集成3U PCIE电源模块作为待测FPGA的CLB测试时候的可控电源用于电源方面参数测试；3U PCIE示波器模块测试CLB交直流模拟参数；在CLB测试板载硬件平台上的激励FPGA内部集成误码测试模块以满足CLB功能测试需求；利用激励FPGA内部的时钟模块产生可变时钟，满足CLB测试时对参考时钟的需求从而完成对FPGA上CLB的全功能、全性能测试，实现测试的低成本、小型化。
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公开(公告)号：CN111308330A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN202010263121.0
申请日：2020-04-07
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3183
Abstract: 本发明提供了一种针对FPGA的DCM的测试系统及方法，用于对FPGA的DCM进行功能、性能的全覆盖测试，通过将码型发生器模块、测试仪器模块、矢量网络分析仪模块、程控电源模块集成在PXI工控机内部，并采用DCM测试PCB，通过USB JTAG下载器将PXI工控机与DCM测试PCB连接共同构建一个测试系统，使测试系统更简单，通过PXI工控机控制USB JTAG下载器实现对各测试用例的下载，在PXI工控机上选择各测试项目并预先设定各测试项目的测试参数，在测试过程中根据预先设定内容将FPGA的DCM输出管脚的输出信号通过开关矩阵模块输入到示波器模块、频谱仪模块以及矢量网络分析仪模块，进而实现对FPGA的DCM的功能、性能的全覆盖测试，减少手动设置，降低操作的时间，大幅度提高FPGA的DCM模块的测试效率。
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公开(公告)号：CN210297734U
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201921777539.2
申请日：2019-10-22
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: H04L12/26
Abstract: 本实用新型公开了一种多端口通信链路测试仪，包括显示屏、测试模块以及指示单元，所述测试模块包括CPU、FPGA、2M接口芯片，网络接口芯片、MAXIM多协议电平接口芯片、网络接口插座、高密度80PIN插座，所述FPGA分别与CPU、2M接口芯片，网络接口芯片、MAXIM多协议电平接口芯片通信连接，所述网络接口芯片的网络接口与网络接口插座连接，所述2M接口芯片以及MAXIM多协议电平接口芯片的各接口均与高密度80PIN插座连接。本实用新型通过设置80PIN接口插座将低速链路接口集中在一起，可以避免多种接口并存时体积过大的问题，另外通过设置发光二极管和数码管分别表示链路状态和测试仪异常原因，可以避免程序跑飞或者显示屏故障时无法读取异常原因或者链路状态的问题。
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