一种自适应减摩WS2-DLC/DLC多层涂层及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN120060802A

    公开(公告)日:2025-05-30

    申请号:CN202510263641.4

    申请日:2025-03-06

    Abstract: 本发明涉及材料表面改性技术领域,具体涉及一种自适应减摩WS2‑DLC/DLC多层涂层及其制备方法和应用,包括以下步骤:在基底表面沉积中间层Cr层,在中间层Cr层上沉积WS2‑DLC复合层,在WS2‑DLC复合层上采用直流磁控溅射沉积DLC层,进行多次WS2‑DLC复合层和DLC层的交替沉积,得到自适应减摩WS2‑DLC/DLC多层涂层,本发明的WS2‑DLC/DLC多层涂层具有宽温域性能优异、结合力强、结构可灵活调控等优点,为机械部件的表面防护提供了一种高效、可靠且经济的解决方案,显著提高机械部件在复杂工况下的性能和使用寿命,满足工业生产对机械装备高精度、高可靠性和长寿命的需求。

    一种基于M-K趋势检验的长径流序列内部趋势分析方法

    公开(公告)号:CN112115179B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202010855437.9

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 本发明提供一种基于M‑K趋势检验的长径流序列内部趋势分析方法,包括步骤一、获取待分析河流域长径流序列数据;步骤二、将长径流序列划分为多个短径流序列,从而获取待分析河流域年、月长径流序列的内部分段;步骤三、构建步骤二中划分的短时间序列的M‑K趋势检验统计量Sp和标准的正态系统变量Zp,对各个内部分段进行M‑K趋势检验;步骤四、对同一径流序列内的分段趋势结果进行合并和处理。本发明通过变化分段的起点和终点寻找长时间序列内部的显著变化时段,提升了长时间序列趋势变化分析结果的可靠性,在一定程度上避免了更新时间序列长度而产生的趋势分析结果的变化。

    一种基于M-K趋势检验的长径流序列内部趋势分析方法

    公开(公告)号:CN112115179A

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202010855437.9

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 本发明提供一种基于M‑K趋势检验的长径流序列内部趋势分析方法,包括步骤一、获取待分析河流域长径流序列数据;步骤二、将长径流序列划分为多个短径流序列,从而获取待分析河流域年、月长径流序列的内部分段;步骤三、构建步骤二中划分的短时间序列的M‑K趋势检验统计量Sp和标准的正态系统变量Zp,对各个内部分段进行M‑K趋势检验;步骤四、对同一径流序列内的分段趋势结果进行合并和处理。本发明通过变化分段的起点和终点寻找长时间序列内部的显著变化时段,提升了长时间序列趋势变化分析结果的可靠性,在一定程度上避免了更新时间序列长度而产生的趋势分析结果的变化。

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