公开(公告)号：CN108804347A

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201710311580.X

申请日：2017-05-05

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 惠恩明 ,  杨建中 ,  冯冰艳 ,  李沈 ,  董放

IPC: G06F12/0811 ,  G06F12/0897

CPC classification number: G06F12/0811 ,  G06F12/0897

Abstract: 本发明公开了一种用于基于分布式计算技术的数据汇聚系统中的缓存层，包括：用于存储采集层所采集的数据的一级缓存；与所述一级缓存通信连接的二级缓存，用于拉取所述一级缓存中达到设定阈值的数据。本发明还提供一种用于基于分布式计算技术的数据汇聚系统及数据汇聚方法。本发明在采集层与分布式计算存储层之间设置两级缓存层，并在分布式计算存储层的写入端集成分布式计算框架实现数据的并行拉取与写入，是为智能工厂大数据中心建设进行指导的根本性方案。由此解决现有技术中数控设备或系统的数据采集仍然处于离散状态，无法形成一个有机整体的技术问题和采集/存储速度低下的效率问题。

公开(公告)号：CN108445838A

公开(公告)日：2018-08-24

申请号：CN201810403165.1

申请日：2018-04-28

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 杨建中 ,  陈吉红 ,  惠恩明 ,  李沈

IPC: G05B19/408

Abstract: 本发明公开了一种数控机床加工质量分析方法，包括：步骤1：在一次加工过程中，基于机床指令域数据中机床各轴指令位置和实际位置，求取各轴的跟随误差，获得各轴跟随误差的时间序列数据集S1；步骤2：将步骤1获得的各轴跟随误差的时间序列数据集S1与标准加工中跟随误差的时间序列数据集S0进行比较，计算S1与S0之间的距离；步骤3：步骤2计算的距离与预设的阈值进行比较，大于预设的阈值，则跟随误差过大，加工质量不符合要求；否则，加工质量符合要求。本发明基于数控机床指令域电控数据获得各轴在完整加工过程中的跟随误差的时间序列数据集S1，与标准加工中跟随误差的时间序列数据集S0进行比较，达到智能分析加工质量的目的。

公开(公告)号：CN108445838B

公开(公告)日：2020-07-28

申请号：CN201810403165.1

申请日：2018-04-28

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 杨建中 ,  陈吉红 ,  惠恩明 ,  李沈

IPC: G05B19/408

Abstract: 本发明公开了一种数控机床加工质量分析方法，包括：步骤1：在一次加工过程中，基于机床指令域数据中机床各轴指令位置和实际位置，求取各轴的跟随误差，获得各轴跟随误差的时间序列数据集S1；步骤2：将步骤1获得的各轴跟随误差的时间序列数据集S1与标准加工中跟随误差的时间序列数据集S0进行比较，计算S1与S0之间的距离；步骤3：步骤2计算的距离与预设的阈值进行比较，大于预设的阈值，则跟随误差过大，加工质量不符合要求；否则，加工质量符合要求。本发明基于数控机床指令域电控数据获得各轴在完整加工过程中的跟随误差的时间序列数据集S1，与标准加工中跟随误差的时间序列数据集S0进行比较，达到智能分析加工质量的目的。