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公开(公告)号：CN117387499A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311199117.2
申请日：2023-09-15
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开一种工件表面涂层厚度测量方法及系统，该方法包括：对所述工件的表面进行光扫描，获取点云数据，对所述点云数据进行预处理，并根据预处理后的所述点云数据，生成所述工件的三维模型；提取预处理后的所述点云数据的特征点，生成特征线和特征面，获取所述工件的三维模型的曲面类型，并根据所述特征线和所述特征面，对所述工件的三维模型的曲面进行分割，将曲面类型相同的曲面分为一组，将所有组的曲面进行曲面拟合，生成新的三维模型；获取每个曲面的曲线切向量和剖面法向量，根据所述曲线切向量和所述剖面法向量，计算曲面在指定刀位点的法矢，沿着指定刀位点的法矢对所述工件进行涂层厚度测量。
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