公开(公告)号：CN109115695A

公开(公告)日：2019-01-01

申请号：CN201810891464.4

申请日：2018-08-07

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 江浩 ,  江奎 ,  刘世元 ,  周志康 ,  刘佳敏 ,  谷洪刚 ,  陈修国

IPC: G01N21/27

Abstract: 本发明属于各向异性体材料测量相关技术领域，其公开了一种各向异性体材料光学常数和欧拉角的提取方法，该方法包括以下步骤：(1)建立待测样品的测试系统，通过所述测试系统获得待测样品的测量穆勒矩阵光谱Mm；(2)根据4×4矩阵法建立待测样品的正向光学模型，并计算出待测样品的部分传输矩阵；(3)结合光学常数拟合初值及所述部分传输矩阵计算出待测样品的理论穆勒矩阵光谱Mc；(4)计算出理论穆勒矩阵光谱与测量光谱之间的均方根误差，并寻优光学常数以使得该均方根误差小于设定阈值，从而提取出待测样品多波长下的光学常数和欧拉角。本发明的分析过程简单，测量准确性较高，适用性较好，灵活性较高。

公开(公告)号：CN109115695B

公开(公告)日：2020-05-19

申请号：CN201810891464.4

申请日：2018-08-07

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 江浩 ,  江奎 ,  刘世元 ,  周志康 ,  刘佳敏 ,  谷洪刚 ,  陈修国

IPC: G01N21/27

Abstract: 本发明属于各向异性体材料测量相关技术领域，其公开了一种各向异性体材料光学常数和欧拉角的提取方法，该方法包括以下步骤：(1)建立待测样品的测试系统，通过所述测试系统获得待测样品的测量穆勒矩阵光谱Mm；(2)根据4×4矩阵法建立待测样品的正向光学模型，并计算出待测样品的部分传输矩阵；(3)结合光学常数拟合初值及所述部分传输矩阵计算出待测样品的理论穆勒矩阵光谱Mc；(4)计算出理论穆勒矩阵光谱与测量光谱之间的均方根误差，并寻优光学常数以使得该均方根误差小于设定阈值，从而提取出待测样品多波长下的光学常数和欧拉角。本发明的分析过程简单，测量准确性较高，适用性较好，灵活性较高。