公开(公告)号：CN106950484A

公开(公告)日：2017-07-14

申请号：CN201710148301.2

申请日：2017-03-14

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 杨君友 ,  侯晶迪 ,  何煦 ,  姜庆辉 ,  任洋洋 ,  辛集武 ,  张旦 ,  周志伟

IPC: G01R31/26 ,  G01N25/20

CPC classification number: G01R31/2648 ,  G01N25/20 ,  G01R31/2601

Abstract: 本发明属于半导体材料测试技术领域，具体涉及一种同时测量霍尔系数和塞贝克系数的装置及方法，该装置包括直行滑轨、磁铁组、测试探针和主加热器，直行滑轨两端分别放置有一个磁铁架，每个磁铁架上各设置有一对相同磁铁组，主加热器设置在直行滑轨的上方，待测样品放置在主加热器表面的两片陶瓷片副加热器上，主加热器上还设置有测试探针，电机驱动直行滑轨移动。本发明还公开了采用上述装置测量霍尔系数和塞贝克系数的方法。本发明有效的解决了塞贝克系数测量中对测量形状要求高的问题，能够测量不同大小形状的材料，也实现了在不同温度下的霍尔系数和塞贝克系数的测量，实现了自动化操作，测试精度高。

公开(公告)号：CN106950484B

公开(公告)日：2019-04-12

申请号：CN201710148301.2

申请日：2017-03-14

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 杨君友 ,  侯晶迪 ,  何煦 ,  姜庆辉 ,  任洋洋 ,  辛集武 ,  张旦 ,  周志伟

IPC: G01R31/26 ,  G01N25/20

Abstract: 本发明属于半导体材料测试技术领域，具体涉及一种同时测量霍尔系数和塞贝克系数的装置及方法，该装置包括直行滑轨、磁铁组、测试探针和主加热器，直行滑轨两端分别放置有一个磁铁架，每个磁铁架上各设置有一对相同磁铁组，主加热器设置在直行滑轨的上方，待测样品放置在主加热器表面的两片陶瓷片副加热器上，主加热器上还设置有测试探针，电机驱动直行滑轨移动。本发明还公开了采用上述装置测量霍尔系数和塞贝克系数的方法。本发明有效的解决了塞贝克系数测量中对测量形状要求高的问题，能够测量不同大小形状的材料，也实现了在不同温度下的霍尔系数和塞贝克系数的测量，实现了自动化操作，测试精度高。

公开(公告)号：CN108490237A

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201810189216.5

申请日：2018-03-08

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 杨君友 ,  孙兵杨 ,  辛集武 ,  侯晶迪 ,  姜庆辉

IPC: G01R19/00 ,  G01R29/12

CPC classification number: G01R19/0084 ,  G01R29/12

Abstract: 本发明公开了一种便携式金属管道热电势无损测量的装置及方法，该装置包括用于与被测金属管道直接接触并用于检测与被测金属管道相接触区域的温度和电势的第一探头(10)、第二探头(18)，第一电动滑台(7)用于带动第一探头(10)移动，加热器(11)置于第一探头(10)内部；基座(20)为拱桥形，包括用于与被测金属管道贴合接触的圆弧面；固定组件(21)为末端带有吸盘的可伸缩金属杆，该固定组件(21)与基座(20)的侧面相连。本发明通过对装置关键的测量原理、各个组件的结构细节构造，以及该装置适用的测量方法中关键的升温速率控制、压力取值、测量位置点选择等进行改进，非常便于现场测量金属管道热电势。