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发明公开
一种多工位四路光耦测试板审中-实审

公开(公告)号：CN118858705A

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202410960051.2

申请日：2024-07-17

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 郭文博 , 方岚 , 孙丽丽 , 栗振超

IPC: G01R1/04 , G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种多工位四路光耦测试板，用于测试光耦，包括测试板和夹具转接器，所述测试板上具有四路光耦测试电路，且所述测试板上设有排针，所述夹具转接器连接用于夹持光耦的夹具和排针，所述测试板的输入端连接指示灯，输出端探测点连接示波器；本发明中，使用夹具转接器结合排针的方式进行光耦夹具连接，转接器使用和更换都比较方便；可兼容四路以下光耦的测试；可同时实现多种封装类型光耦的对比测试。

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