一种新型激光偏振相移干涉层析测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110411333A

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201910577048.1

    申请日:2019-06-28

    Abstract: 本发明涉及一种新型激光偏振相移干涉层析测量装置,其包括激光器,激光器的输出光路上从左到右依次设置有第一偏振片和偏振分光镜;偏振分光镜的透射光路上设置有第一反射镜,偏振分光镜的反射光路上设置有第二反射镜;第二反射镜的反射光路上从左到右依次设置有扩束系统、待测样品和缩束系统;缩束系统的出射光路和第一反射镜的反射光路的交汇处设置有分光镜,分光镜的透射光路上从左到右依次设置有四分之一波片、第二偏振片,聚焦透镜、CCD探测器。提供了一种新型激光偏振相移干涉层析测量装置及方法,其用于测量透明/半透明介质或流场的折射率分布,且相位检测精度高于传统的光学相干层析光路。

    一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法

    公开(公告)号:CN115541203A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211322616.1

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明提供了一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法,其光路结构包括分光镜、半波片、第一聚焦透镜、反射镜,还包括缩束单元、四分之一波片及第二聚焦透镜;入射光经所述分光镜后被分为透射光和反射光,沿此反射光前进方向依次设有第一偏振片、第一光电探测器,沿此反射光前进方向的反向依次设有第二偏振片、第二光电探测器;沿透射光前进方向依次设有所述缩束单元、半波片、待测双折射器件、第一聚焦透镜、四分之一波片、第二聚焦透镜、反射镜。本发明可以测量楔形结构以及具有变化楔角斜面、曲面或其他出射表面不平行于入射表面结构的双折射器件的相位延迟量,且光路结构简单,测量方法简单方便。

    海水激活电池放电工况模拟装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118837744A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202410880099.2

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明公开了一种海水激活电池放电工况模拟装置,其包括电解液循环系统、冷却水循环系统、放电功率模拟加载系统和测控系统,电解液循环系统包括电解液储液箱、电池本体、温控阀、混流阀、螺旋流道和各连接段,电解液储液箱的出口与电池本体的进口相连,电池本体的出口与温控阀的进口相连,温控阀的第一出口与混流阀的第一进口相连,温控阀的第二出口流经螺旋流道后与混流阀的第二进口相连,混流阀的出口与电解液储液箱的进口相连;冷却水循环系统包括循环相连的储水箱和实验水箱,实验水箱内设置有电池本体;放电功率模拟加载系统与电池本体相连;测控系统与电解液循环系统、冷却水循环系统和放电功率模拟加载系统相连。

    一种新型水下子弹弹头及其制备方法

    公开(公告)号:CN110017739A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201910280254.6

    申请日:2019-04-09

    Abstract: 本发明提供一种新型水下子弹弹头及其制备方法,其在弹头的外表面均匀设计三角形展向沟槽结构,并在沟槽外表面均镀覆有微、纳二元结构复合的镍硼合金镀层。本发明通过机械加工、化学镀与热处理相结合的方法,在弹体表面制备出特定表面微观结构,并在形貌效应的作用下,在固/液界面间构建出气相结构最终实现减阻,显著改善了弹头的水动力学性能,大幅度提高水下子弹的航速和有效射程。且本发明是在不改变水下子弹原有发射装置任何结构以及子弹外形尺寸的情况下实现,不仅可以用于新型子弹的制造,也可以对现有水下子弹进行升级改造,以提高其战斗战术性能,具有广泛的工程应用前景和重要的军事价值。

    双频激光外差干涉相位测量大尺寸光学平面的装置及方法

    公开(公告)号:CN109855743B

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN201910009286.2

    申请日:2019-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种双频激光外差干涉相位测量大尺寸光学平面的装置,双频激光器的输出光路上设置有第一扩束系统,第一扩束系统的输出光路上设置有偏振分光棱镜,偏振分光棱镜的反射光方向设置有参考信号获取系统,偏振分光棱镜的透射光方向设置有待测信号获取系统,偏振分光棱镜的反射光方向的相反方向设置有偏振片,偏振片的输出光路上设置有分光镜,分光镜的透射光方向设置有第一光电探测器,分光镜的反射光方向设置有依次设置有待测信号测量系统。本发明还提供一种双频激光外差干涉相位测量大尺寸光学平面的方法。本发明所公开的测量装置和方法精度较高,且能测量较大面积的光学平面。

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