一种低气压箱穿线法兰盘
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116316291A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202111564837.5

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 本发明公开了一种低气压箱穿线法兰盘,包括法兰盘主体,所述法兰盘主体包括可拆卸连接在一起的第一分盘和第二分盘,所述第一分盘和第二分盘相互接触的侧面上设置有第一过线通孔;所述第一分盘的一端面上滑动连接有第一滑板,所述第二分盘与所述第一滑板同侧的端面上滑动连接有第二滑板,所述第一滑板靠近所述第二滑板的一侧设置有第一弧形开口,所述第二滑板靠近所述第一滑板的一侧设置有第二弧形开口,所述第一弧形开口和第二弧形开口配合成第二过线通孔,所述第二过线通孔与所述第一过线通孔对应设置。本发明的低气压箱穿线法兰盘,穿线更简便,通用性好,密封容易。

    一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

    公开(公告)号:CN108089054B

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201611036099.6

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法,用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻,包括以下步骤:取两个插针,分别测量两个所述插针的第一电阻,将两个所述第一电阻相加得第二电阻;在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下,测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻;将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应,并将所述插针的一端压入所述镀覆孔,然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻;将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和,所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。本发明提供的方法有利于降低测量误差且测量效率更高,使测量更加真实可靠。

    一种轨道电路中设备数据管理方法及系统

    公开(公告)号:CN116215624A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202111474333.4

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本申请提供了一种轨道电路中设备数据管理方法及系统,该方法包括:利用预设智能读取设备,读取预置于待管理设备预设位置上的编码信息;其中,待管理设备是轨道电路中需要进行编码信息管理的设备;各个待管理设备的编码信息不同;将读取到待管理设备的编码信息上传至轨道电路的监测终端;也即,本申请能够通预设智能读取设备,读取到轨道电路中各个待管理设备的编码信息,实现对轨道电路中各个设备编码信息的采集和管理,解决了现有轨道电路中各个的设备的编号信息均需要由人工进行采集和管理,成本过高且效率低的问题。

    KVM一体机及提升电子产品的电磁兼容性的方法

    公开(公告)号:CN111736717A

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN202010630891.4

    申请日:2020-07-03

    Abstract: 本发明公开了一种KVM一体机及提升电子产品的电磁兼容性的方法。该KVM一体机包括金属箔和导体,金属箔包裹遮盖住KVM一体机的内部电路,导体将金属箔接地,从而形成电流通道,导体为高导电率导体,以使电流通道为高频电流通道,这样能够减弱电磁场与内部电路的耦合效应、降低内部电路的敏感性,从而能够提升KVM一体机的电磁兼容性,尤其是提升KVM一体机的静电放电抗扰度。该方法用金属箔包裹覆盖住电子产品的内部电路,用高导电率的导体将所述金属箔接地,以形成高频电流通道。该方法能够提升电子产品的电磁兼容性,尤其是提升电子产品的的静电放电抗扰度,且该方法易于实施,实施效率高、实施成本低。

    一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

    公开(公告)号:CN108089054A

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201611036099.6

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法,用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻,包括以下步骤:取两个插针,分别测量两个所述插针的第一电阻,将两个所述第一电阻相加得第二电阻;在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下,测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻;将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应,并将所述插针的一端压入所述镀覆孔,然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻;将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和,所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。本发明提供的方法有利于降低测量误差且测量效率更高,使测量更加真实可靠。

    一种耦合去耦网络
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108254637A

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201611250167.9

    申请日:2016-12-29

    Abstract: 本发明公开一种耦合去耦网络,包括:绝缘材质的底座、设置于底座上的多个导电元件支架、以及多个耦合元件;其中一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器,另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备,每个耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间,多个耦合元件通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。在使用中,通过替换连接在两个支撑架之间的耦合元件或者调整多个耦合元件之间的连接关系,就可以将耦合去耦网络的参数调整至与被测设备的参数相匹配。

    一种取出器
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN213532609U

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202022142745.5

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本实用新型公开了一种取出器。该取出器包括手柄和至少两个设置于手柄的同一端的弹片,弹片构成一个能够容纳螺栓的头部的腔体,并且弹片均能够插入螺栓与沉孔之间的缝隙并卡住螺栓。使用时,先将螺栓退松,然后将取出器的弹片向下插入,使得弹片插入螺栓与沉孔之间的缝隙并卡住螺栓,再通过手柄提出取出器,即可实现螺栓的取出。由于弹片能够插入螺栓与沉孔之间的缝隙并卡住螺栓,并且每个取出器包括至少两个弹片,因此螺栓能够被至少两个弹片卡住,从而使得螺栓能够稳定地卡接于取出器,减少了螺栓由于自重而再次掉回沉孔的现象,缩短了螺栓取出过程,提高了工作效率。

    设备参数检测装置
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN209486173U

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201822235910.4

    申请日:2018-12-28

    Abstract: 本实用新型提供了一种设备参数的检测装置,该装置包括:检测工装模块、标准电阻、数据采集模块及数据处理模块;其中:检测工装模块用于放置待检测设备及标准电阻;数据采集模块包括信号源及电压表;标准电阻、信号源可与待检测设备串行电连接;数据采集模块与数据处理模块相连,以将待检测设备的电压、标准电阻的电压、信号源的电压及电源信号的相关参数发送至数据处理模块;数据处理模块,用于获得标准电阻的电阻值,根据标准电阻的电阻值、待检测设备的电压、标准电阻的电压、信号源的电压及电源信号的相关参数,计算待检测设备与阻抗相关的参数。通过该装置可在低温环境对设备参数进行检测,检测准确度较高。

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