一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

    公开(公告)号:CN108089054A

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201611036099.6

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法,用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻,包括以下步骤:取两个插针,分别测量两个所述插针的第一电阻,将两个所述第一电阻相加得第二电阻;在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下,测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻;将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应,并将所述插针的一端压入所述镀覆孔,然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻;将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和,所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。本发明提供的方法有利于降低测量误差且测量效率更高,使测量更加真实可靠。

    一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

    公开(公告)号:CN108089054B

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201611036099.6

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法,用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻,包括以下步骤:取两个插针,分别测量两个所述插针的第一电阻,将两个所述第一电阻相加得第二电阻;在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下,测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻;将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应,并将所述插针的一端压入所述镀覆孔,然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻;将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和,所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。本发明提供的方法有利于降低测量误差且测量效率更高,使测量更加真实可靠。

    一种耦合去耦网络
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108254637A

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201611250167.9

    申请日:2016-12-29

    Abstract: 本发明公开一种耦合去耦网络,包括:绝缘材质的底座、设置于底座上的多个导电元件支架、以及多个耦合元件;其中一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器,另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备,每个耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间,多个耦合元件通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。在使用中,通过替换连接在两个支撑架之间的耦合元件或者调整多个耦合元件之间的连接关系,就可以将耦合去耦网络的参数调整至与被测设备的参数相匹配。

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