公开(公告)号：CN115134269B

公开(公告)日：2023-08-25

申请号：CN202210751166.1

申请日：2022-06-28

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 钱荣荣 ,  林德平 ,  王亚祺 ,  漆渊 ,  张松岭

IPC: H04L43/0811 ,  H04L43/50

Abstract: 本申请公开了一种多智能体系统连通性的检测方法和装置，其中方法包括：多智能体系统中的第一智能体按照预设的采样周期，采集自身和第二智能体之间的状态向量差值；所述第一智能体和所述第二智能体之间存在相邻直连关系；所述第一智能体根据最近预设K个采样周期采集的所述状态向量差值，利用普通最小二乘法，确定当前系统的连通性；所述K大于1。采用本申请，可以有效降低多智能体系统的连通性检测开销、提高检测效率和准确性。

公开(公告)号：CN115134269A

公开(公告)日：2022-09-30

申请号：CN202210751166.1

申请日：2022-06-28

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 钱荣荣 ,  林德平 ,  王亚祺 ,  漆渊 ,  张松岭

IPC: H04L43/0811 ,  H04L43/50

Abstract: 本申请公开了一种多智能体系统连通性的检测方法和装置，其中方法包括：多智能体系统中的第一智能体按照预设的采样周期，采集自身和第二智能体之间的状态向量差值；所述第一智能体和所述第二智能体之间存在相邻直连关系；所述第一智能体根据最近预设K个采样周期采集的所述状态向量差值，利用普通最小二乘法，确定当前系统的连通性；所述K大于1。采用本申请，可以有效降低多智能体系统的连通性检测开销、提高检测效率和准确性。