公开(公告)号：CN119310312A

公开(公告)日：2025-01-14

申请号：CN202411446949.4

申请日：2024-10-16

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京邮电大学

Inventor： 卓越 ,  罗俊宇 ,  庄唯玲 ,  高锦春 ,  吴文欢 ,  苗清 ,  侯文涛 ,  李梦姣

IPC: G01R1/04 ,  G01R29/08 ,  G01R31/00

Abstract: 本申请公开了一种同轴连接器及互调测试方法，属于通信电路领域。所述同轴连接器包括：连接器本体、壳体和盖体，所述连接器本体为中空结构；所述连接器本体穿设于所述壳体，所述壳体开设有与所述连接器本体连通的窥测孔，所述窥测孔用于供近场探头插入；所述盖体与所述窥测孔可拆卸连接，所述盖体、所述连接器本体及所述壳体共同限定出屏蔽腔。本申请可实现采用近场辐射测试方法对同轴连接器进行互调测试，快速且精确地定位同轴连接器中互调较为突出的区域，无需将同轴连接器拆卸下来进行互调测试，且无需对移动通信系统的通信链路关机并停止服务，降低维护难度，降低维护时的影响范围。

公开(公告)号：CN118074835A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202410205428.3

申请日：2024-02-23

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 王超逸 ,  高锦春 ,  陈智娇 ,  宋凯旋 ,  罗俊宇 ,  庄唯玲

IPC: H04B17/391 ,  H04B15/00

Abstract: 本发明公开了一种高速信号无源互调干扰的数学预测方法。本发明包括：首先对一电子通信器件进行多频段的双音无源互调测试，归纳其非线性特征并建立相应的无源互调数学模型；然后从时域电流的角度推导基频带高速信号不同阶无源互调产物的数学表达式，分析此器件非线性对单路高速信号的影响并预测其在多路高速信号输入下的无源互调性能；最后搭建测试无源互调、非线性干扰的实验平台，验证该数学预测方法的准确性。其中，该方法的特征为：揭示了基频带高速信号受非线性源干扰的本征数学机理。通过上述方法，能够准确预测基频带无源器件对高速信号的非线性干扰，对实际工程中复杂的无源互调干扰研究具有参考价值。

公开(公告)号：CN117764017A

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202311835372.1

申请日：2023-12-28

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 高锦春 ,  庄唯玲 ,  罗俊宇 ,  张田梦

IPC: G06F30/367 ,  G06F30/23

Abstract: 本发明公开了一种温度循环条件下连接器无源互调预测方法。本发明包括：建立连接器接触电阻和温度的关系模型；基于隧道效应，建立接触点处的电流模型；建立三阶互调产物功率随温度变化的预测模型；选取连接器样本，测试其在室温下的接触电阻值和三阶互调功率值；设计并实施温度循环实验，实时记录连接器样本的三阶互调功率值；最后将互调测量值和理论预测值进行比较并计算误差。本发明通过对温度循环引起的同轴连接器材料非线性和接触非线性进行分析，对温度循环条件下同轴连接器的无源互调预测方法进行研究，建立了无源互调预测模型，能够有效预测环境温度改变时连接器无源互调性能的变化，为实际工程应用提供理论基础。

公开(公告)号：CN117725745A

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202311779532.5

申请日：2023-12-22

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 高锦春 ,  张田梦 ,  王文佳 ,  王超逸 ,  庄唯玲

IPC: G06F30/20 ,  G06F30/367 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明公开了一种高速差分电路中键合线失效对电磁辐射性能影响的预测方法。本发明包括：首先设计带有键合线互连的高速差分电路，并对键合线进行失效处理；之后分别建立不同退化程度的高速差分电路的三维电磁场模型，仿真分析不同退化程度的高速差分电路在探针处的电磁辐射强度；之后提取寄生参数，搭建等效电路模型；之后推导不同退化程度的高速差分电路在探针处的总辐射场；最后对比仿真分析结果和理论计算结果，评估误差。本发明采用仿真分析和理论推导相结合的方式，提出了带有不同失效数量的键合线的电磁辐射强度评估方案，该方法可以准确便捷的预测在芯片服役过程中键合线失效对电磁辐射性能的影响。

公开(公告)号：CN117313617A

公开(公告)日：2023-12-29

申请号：CN202311293887.3

申请日：2023-10-08

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 高锦春 ,  王文佳 ,  张田梦 ,  罗俊宇 ,  庄唯玲

IPC: G06F30/367

Abstract: 本发明公开了一种弹性接触件压缩状态对传输通道高频性能影响的预测方法。本发明包括：测量压缩状态下弹性接触件的物理尺寸；建立带有不同压缩状态的弹性接触件传输通道的电磁场模型，仿真得到高频性能参数；求解不同压缩状态下的弹性接触件的寄生参数，建立传输通道的等效电路模型，仿真得到高频性能参数；测量带有不同压缩状态弹性接触件的传输通道的高频性能参数，比较实验测量结果与模型仿真结果；预测带有其他压缩状态弹性接触件的传输通道的高频传输性能。本发明采用理论分析与实验测试相结合的方法，充分分析了弹性接触件的压缩状态对传输通道高频性能的影响进行了分析，并对带有不同压缩状态下弹性接触件的传输通道的高频性能进行了预测，为指导工程应用提供了理论支撑。该方法适用于分析所有具有相似结构的弹性接触件。