公开(公告)号：CN119227529A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411270780.1

申请日：2024-09-11

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 万博 ,  洪世岷 ,  管树凯 ,  付桂翠 ,  杨闫博 ,  乔昱 ,  丁悦

IPC: G06F30/27 ,  G06F30/15 ,  G06N3/126 ,  G06F113/26

Abstract: 本发明涉及一种针对木星辐射环境的多层材料辐射屏蔽方案的优化设计方法，包括以下步骤：步骤一：基于SPENVIS平台分析木星高能粒子分布；步骤二：屏蔽材料种类及叠加方式的选择；步骤三：遗传算法参数设计；步骤四：无定义染色体编码；步骤五：建立适应度函数；步骤六：最优多层材料辐射屏蔽方案的优化设计。该方法解决了难以通过简单的数学式解析法来考虑多种影响因素且得到最优屏蔽方案的问题，为木星航天器辐射屏蔽方案设计研究提供了理论指导。

公开(公告)号：CN119227528A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411270516.8

申请日：2024-09-11

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 付桂翠 ,  管树凯 ,  刘庆盛 ,  钟京洋 ,  万博

IPC: G06F30/27 ,  G06F30/15 ,  G06N3/126 ,  G06F111/06 ,  G06F119/02

Abstract: 步骤一：空间辐射环境分析与屏蔽几何材料设计；步骤二：确定边界条件；步骤三：确定辐射屏蔽多目标优化模型；步骤四：基于遗传算法的屏蔽设计；步骤五：辐射屏蔽可靠性风险建模分析；步骤六：具体案例分析；步骤七：基于可靠性评估的辐射屏蔽设计分析。它采用一种多目标优化策略，旨在增强屏蔽结构和材料选择，优先考虑轻量化、紧凑性和最小辐射剂量等目标。该策略利用遗传算法，通过蒙特卡洛MCNP6模拟分析实现辐射屏蔽设计优化的自动化和效率的提高。构建基于可靠性的屏蔽设计技术，将不确定性集成到优化设计过程中，实现在辐射屏蔽材料剂量当量结果上的可靠性评估，提高电子设备可靠性。解决了将不确定性因素集成到辐射屏蔽优化过程中的难题，为有效辐射屏蔽和可靠性评估提供了理论依据。

公开(公告)号：CN119227354A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411270646.1

申请日：2024-09-11

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 付桂翠 ,  管树凯 ,  刘庆盛 ,  钟京洋 ,  万博

IPC: G06F30/20 ,  G06F30/15 ,  G06F119/02 ,  G06F113/26

Abstract: 步骤一：确定辐射屏蔽参数；步骤二：分析并确定辐射屏蔽材料；步骤三：确定空间辐射环境；步骤四：几何设计与材料结果分析；步骤五：基于均匀设计的多层屏蔽材料优化；步骤六：模拟结果分析；步骤七：对比分析验证。它采用粒子运输分析的手段针对多层空间屏蔽材料开展研究，从工艺过程本身出发进行分析，对其进行故障模式、影响与危害性分析，找到多层屏蔽材料优化设计过程中对辐射屏蔽性能影响的有关键控制参数。通过均匀设计对关键参数进行试验设计，确定关键参数的优化设计。借助粒子运输软件MCNP6对得到的关键因素进行模拟分析，得到不同厚度情况下的多层材料的剂量当量分布情况，并通过FLUKA代码对仿真模型进行验证和修正。最后结合优化模型对多层空间辐射屏蔽材料进行总结，从而为航天器多层材料屏蔽优化提供理论依据。

公开(公告)号：CN117494631A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202311441019.5

申请日：2023-11-01

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 付桂翠 ,  杨闫博 ,  管树凯 ,  万博 ,  丁悦 ,  乔昱 ,  洪世岷

IPC: G06F30/343

Abstract: 本发明涉及一种FPGA中单粒子软错误传播结果评估方法，包括以下步骤：步骤一：FPGA结构特点分析和电路模块划分；步骤二：单粒子软错误关键节点分析；步骤三：单粒子软错误传播过程分析；步骤四：元胞自动机模型建模。该方法提出了一种基于元胞自动机的FPGA单粒子软错误传播模型，通过对FPGA结构的分析和逐级结构的拆解，利用元胞自动机中元胞的演化表现单粒子软错误在FPGA中不同层级的传播，并考虑电路三种屏蔽效应的存在对软错误传播概率的影响，得到单粒子软错误传播结果。与传统的仿真与概率计算方法相比，可以更直观高效的对大型集成电路中的单粒子软错误传播结果进行评估。