一种高速高光谱工业杂物检测装置和方法

    公开(公告)号:CN117929288A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311722099.1

    申请日:2023-12-14

    IPC分类号: G01N21/25 G01N21/01

    摘要: 本发明公开了一种高速高光谱工业杂物检测装置和方法,该装置包括:光谱数据采集系统,用像采集得到物料的光谱数据;照明系统,用于对物料进行宽谱段高密度照明;光谱处理系统,用于基于光谱数据识别出物料中的杂物,并确定杂物的位置;一体化多维调节系统,用于实现对光谱数据采集系统、照明系统、检测装置工作平面的调节。本发明基于杂物和物料的空间分布特征和光谱吸收特征差异进行杂物位置和属性信息提取,实现对杂物的实时检测,区分不同类型杂物、不同质量产品并返回杂物及低质量产品位置信息和类型,解决传统杂物检测中机器视觉检测受训练样本限制,复杂背景下杂物检测能力低的问题和高端产品化学成分难以实现大批量实时普查的问题。

    一种针对起伏地表的日光诱导叶绿素荧光场景仿真方法

    公开(公告)号:CN114169135A

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202111316052.6

    申请日:2021-11-08

    IPC分类号: G06F30/20 G01S17/89

    摘要: 本发明一种针对起伏地表的日光诱导叶绿素荧光场景仿真方法,包含以下步骤:(1)大气利用辐射传输模型计算水平地表下的大气辐射分量;(2)利用地形、太阳照明方向和观测方向计算地形辐射传输参数;(3)逐像元提取地表每个模版范围内不同位置的多角度反射率因子空间分布、二向发射荧光发射辐亮度空间分布和半球辐出度空间分布;(4)计算周围地物的平均反射率因子和平均荧光光谱辐射通量;(5)分别计算地表对太阳直射和大气下行散射的反射辐亮度、对周围地物反射和荧光发射辐射的反射辐亮度、太阳直射下的荧光发射辐亮度、周围地物邻近效应辐亮度和大气上行散射辐亮度,最终计算得到大气层顶入瞳辐亮度。

    一种针对起伏地表的日光诱导叶绿素荧光场景仿真方法

    公开(公告)号:CN114169135B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202111316052.6

    申请日:2021-11-08

    IPC分类号: G06F30/20 G01S17/89

    摘要: 本发明一种针对起伏地表的日光诱导叶绿素荧光场景仿真方法,包含以下步骤:(1)大气利用辐射传输模型计算水平地表下的大气辐射分量;(2)利用地形、太阳照明方向和观测方向计算地形辐射传输参数;(3)逐像元提取地表每个模版范围内不同位置的多角度反射率因子空间分布、二向发射荧光发射辐亮度空间分布和半球辐出度空间分布;(4)计算周围地物的平均反射率因子和平均荧光光谱辐射通量;(5)分别计算地表对太阳直射和大气下行散射的反射辐亮度、对周围地物反射和荧光发射辐射的反射辐亮度、太阳直射下的荧光发射辐亮度、周围地物邻近效应辐亮度和大气上行散射辐亮度,最终计算得到大气层顶入瞳辐亮度。