一种高速高光谱工业杂物检测装置和方法

    公开(公告)号:CN117929288A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311722099.1

    申请日:2023-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种高速高光谱工业杂物检测装置和方法,该装置包括:光谱数据采集系统,用像采集得到物料的光谱数据;照明系统,用于对物料进行宽谱段高密度照明;光谱处理系统,用于基于光谱数据识别出物料中的杂物,并确定杂物的位置;一体化多维调节系统,用于实现对光谱数据采集系统、照明系统、检测装置工作平面的调节。本发明基于杂物和物料的空间分布特征和光谱吸收特征差异进行杂物位置和属性信息提取,实现对杂物的实时检测,区分不同类型杂物、不同质量产品并返回杂物及低质量产品位置信息和类型,解决传统杂物检测中机器视觉检测受训练样本限制,复杂背景下杂物检测能力低的问题和高端产品化学成分难以实现大批量实时普查的问题。

    一种嵌入式高光谱大气校正处理方法

    公开(公告)号:CN119808534A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411802143.4

    申请日:2024-12-09

    Abstract: 本发明公开一种嵌入式高光谱大气校正处理方法,包括:利用MODTRAN辐射传输模型,建立大气校正通用查找表;基于查找表构建神经网络模型并对其训练获取最优化权重参数;获取数据图像中观测信息,同时根据辐射定标系数计算出表观反射率;根据遥感图像数据,设置大气参数初始值,利用大气校正网络模型协同反演得到大气水汽含量与可见度;根据遥感图像观测信息与所计算得到的大气参数调用MODTRAN辐射传输模型并行计算出全部波段的大气校正系数;由于相邻空间位置大气参数相近,利用上一阶段的大气参数作为下一阶段的大气校正初始值;重复上述过程直到校正结束。由此解决大气校正技术中参量查找复杂、实时状态影响、反演精度低的问题。

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