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公开(公告)号：CN113420916B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202110638721.5
申请日：2021-06-08
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06F17/18 , G06F17/16
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种多元质量特性动态监控策略设计方法，包括：设计宽松监控方案和严格监控方案准则：在生产过程初始阶段，采用宽松监控方案收集数据，获取监控统计量，判断生产过程处于何种状态，若处于受控状态，则下次获取监控统计量时，依然采用宽松监控方案，若是处于失控状态，则给出报警信号，若是处于警戒状态，则下次获取监控统计量时，采用按照严格监控方案。基于上述设计准则，建立平均报警时间最短的优化模型，求解最优宽松监控方案和严格监控方案的设计参数。
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公开(公告)号：CN113487126B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202110543275.X
申请日：2021-05-19
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06Q50/04 , G06F17/18
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种不合格品动态检测方法，包括：获取n1个生产过程不合格品出现的时刻，并计算检测量M1，判断所述M1是否大于警戒限W1，若是则判定生产过程质量状态受控，否则判断所述M1是否小于第一控制限L1，若是则判定生产过程质量状态失控，否则，在n1个样本的基础上，继续收集n2个生产过程不合格品出现的时刻，并计算检测量M3，判断所述M3是否小于第二控制限L2，若是则判定生产过程质量状态失控，否则判定生产过程质量状态受控。相应的，本专利以平均报警时间最短为优化目标，利用约束条件建立优化模型，获取最优n1,n2,W1,L1,L2的方案。
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公开(公告)号：CN113887009B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202110706093.X
申请日：2021-06-24
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明实施例公开一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法、系统、存储介质和计算机设备，在一个具体实施例中，所述方法包括确定正常应力水平、正常应力水平下所服从的威布尔失效分布的形状参数，和进行加速失效机理一致性检验的置信度水平；确定加速试验的应力水平，在该应力水平下开展定数截尾试验并收集一组样本量为n的试验数据；确定关于形状参数的检验统计量，并分析其性质；计算所述置信度水平下的判定区间；计算所述样本的对应的形状参数检验统计量并与判定区间进行比较，判断当前应力水平是否满足加速失效机理一致性假设。
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公开(公告)号：CN113590366B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202110692256.3
申请日：2021-06-22
Applicant: 北京电子工程总体研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种系统使用可用度评估方法、计算机设备和存储介质，包括以下步骤：S10：确定系统状态空间；S30：确定系统在各状态下的平均驻留时间；S50：确定系统状态转移概率矩阵；S70：计算半马尔可夫过程的稳态分布；S90：计算系统使用可用度。本发明基于半马尔可夫过程的复杂系统使用可用度评估方法，解决了现有基于使用可用度定义式的评估方法无法处理系统多种失效规律和维修保障状态参数融合计算的问题，可以实现更准确的复杂系统使用可用度评估。
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公开(公告)号：CN113887009A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202110706093.X
申请日：2021-06-24
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明实施例公开一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法、系统、存储介质和计算机设备，在一个具体实施例中，所述方法包括确定正常应力水平、正常应力水平下所服从的威布尔失效分布的形状参数，和进行加速失效机理一致性检验的置信度水平；确定加速试验的应力水平，在该应力水平下开展定数截尾试验并收集一组样本量为n的试验数据；确定关于形状参数的检验统计量，并分析其性质；计算所述置信度水平下的判定区间；计算所述样本的对应的形状参数检验统计量并与判定区间进行比较，判断当前应力水平是否满足加速失效机理一致性假设。
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公开(公告)号：CN113590366A
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202110692256.3
申请日：2021-06-22
Applicant: 北京电子工程总体研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种系统使用可用度评估方法、计算机设备和存储介质，包括以下步骤：S10：确定系统状态空间；S30：确定系统在各状态下的平均驻留时间；S50：确定系统状态转移概率矩阵；S70：计算半马尔可夫过程的稳态分布；S90：计算系统使用可用度。本发明基于半马尔可夫过程的复杂系统使用可用度评估方法，解决了现有基于使用可用度定义式的评估方法无法处理系统多种失效规律和维修保障状态参数融合计算的问题，可以实现更准确的复杂系统使用可用度评估。
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公开(公告)号：CN113568382B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110667351.8
申请日：2021-06-16
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G05B19/418
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种针对多元生产过程的非参数质量监控方法，包括：获取样本处于质量受控状态时的历史观测数据，作为参照数据集；获取待检测样本的质量观测数据，作为待测数据集；根据参照数据集和待测数据集，构造求解基于非参数统计量的监控序列；计算累积和控制限；基于监控序列和累积和控制限，生成监控控制图，根据所述监控控制图判断生产过程是否受控。
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公开(公告)号：CN113568382A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110667351.8
申请日：2021-06-16
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G05B19/418
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种针对多元生产过程的非参数质量监控方法，包括：获取样本处于质量受控状态时的历史观测数据，作为参照数据集；获取待检测样本的质量观测数据，作为待测数据集；根据参照数据集和待测数据集，构造求解基于非参数统计量的监控序列；计算累积和控制限；基于监控序列和累积和控制限，生成监控控制图，根据所述监控控制图判断生产过程是否受控。
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公开(公告)号：CN113487126A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110543275.X
申请日：2021-05-19
Applicant: 北京电子工程总体研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种不合格品动态检测方法，包括：获取n1个生产过程不合格品出现的时刻，并计算检测量M1，判断所述M1是否大于警戒限W1，若是则判定生产过程质量状态受控，否则判断所述M1是否小于第一控制限L1，若是则判定生产过程质量状态失控，否则，在n1个样本的基础上，继续收集n2个生产过程不合格品出现的时刻，并计算检测量M3，判断所述M3是否小于第二控制限L2，若是则判定生产过程质量状态失控，否则判定生产过程质量状态受控。相应的，本专利以平均报警时间最短为优化目标，利用约束条件建立优化模型，获取最优n1,n2,W1,L1,L2的方案。
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公开(公告)号：CN113420916A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110638721.5
申请日：2021-06-08
Applicant: 北京电子工程总体研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种多元质量特性动态监控策略设计方法，包括：设计宽松监控方案和严格监控方案准则：在生产过程初始阶段，采用宽松监控方案收集数据，获取监控统计量，判断生产过程处于何种状态，若处于受控状态，则下次获取监控统计量时，依然采用宽松监控方案，若是处于失控状态，则给出报警信号，若是处于警戒状态，则下次获取监控统计量时，采用按照严格监控方案。基于上述设计准则，建立平均报警时间最短的优化模型，求解最优宽松监控方案和严格监控方案的设计参数。
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