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公开(公告)号:CN113887009A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:CN202110706093.X
申请日:2021-06-24
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明实施例公开一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法、系统、存储介质和计算机设备,在一个具体实施例中,所述方法包括确定正常应力水平、正常应力水平下所服从的威布尔失效分布的形状参数,和进行加速失效机理一致性检验的置信度水平;确定加速试验的应力水平,在该应力水平下开展定数截尾试验并收集一组样本量为n的试验数据;确定关于形状参数的检验统计量,并分析其性质;计算所述置信度水平下的判定区间;计算所述样本的对应的形状参数检验统计量并与判定区间进行比较,判断当前应力水平是否满足加速失效机理一致性假设。
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公开(公告)号:CN113887009B
公开(公告)日:2024-06-21
申请号:CN202110706093.X
申请日:2021-06-24
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明实施例公开一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法、系统、存储介质和计算机设备,在一个具体实施例中,所述方法包括确定正常应力水平、正常应力水平下所服从的威布尔失效分布的形状参数,和进行加速失效机理一致性检验的置信度水平;确定加速试验的应力水平,在该应力水平下开展定数截尾试验并收集一组样本量为n的试验数据;确定关于形状参数的检验统计量,并分析其性质;计算所述置信度水平下的判定区间;计算所述样本的对应的形状参数检验统计量并与判定区间进行比较,判断当前应力水平是否满足加速失效机理一致性假设。
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公开(公告)号:CN113705856B
公开(公告)日:2023-10-03
申请号:CN202110805018.9
申请日:2021-07-16
Applicant: 北京电子工程总体研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种基于多元质量特性动态监控的维修策略优化方法,包括:设计一级检测方案和二级检测方案;在生产过程初始阶段,采用一级检测方案获取第一检测量,判断生产过程处于何种状态,若处于受控状态,则下次获取检测量时,依然采用一级检测方案,若是处于失控状态,则采取预防性维修去除生产过程的质量特性漂移,下次检测继续采用一级方案,若是处于警戒状态,则不采取维修措施,但下次检测采用二级检测方案获取第二检测量进行判定。同时,在生产过程中遇到系统停机时,采用修复性维修恢复正常生产过程。
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公开(公告)号:CN113568382B
公开(公告)日:2022-09-23
申请号:CN202110667351.8
申请日:2021-06-16
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G05B19/418
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种针对多元生产过程的非参数质量监控方法,包括:获取样本处于质量受控状态时的历史观测数据,作为参照数据集;获取待检测样本的质量观测数据,作为待测数据集;根据参照数据集和待测数据集,构造求解基于非参数统计量的监控序列;计算累积和控制限;基于监控序列和累积和控制限,生成监控控制图,根据所述监控控制图判断生产过程是否受控。
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公开(公告)号:CN113705856A
公开(公告)日:2021-11-26
申请号:CN202110805018.9
申请日:2021-07-16
Applicant: 北京电子工程总体研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种基于多元质量特性动态监控的维修策略优化方法,包括:设计一级检测方案和二级检测方案;在生产过程初始阶段,采用一级检测方案获取第一检测量,判断生产过程处于何种状态,若处于受控状态,则下次获取检测量时,依然采用一级检测方案,若是处于失控状态,则采取预防性维修去除生产过程的质量特性漂移,下次检测继续采用一级方案,若是处于警戒状态,则不采取维修措施,但下次检测采用二级检测方案获取第二检测量进行判定。同时,在生产过程中遇到系统停机时,采用修复性维修恢复正常生产过程。
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公开(公告)号:CN113568382A
公开(公告)日:2021-10-29
申请号:CN202110667351.8
申请日:2021-06-16
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G05B19/418
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种针对多元生产过程的非参数质量监控方法,包括:获取样本处于质量受控状态时的历史观测数据,作为参照数据集;获取待检测样本的质量观测数据,作为待测数据集;根据参照数据集和待测数据集,构造求解基于非参数统计量的监控序列;计算累积和控制限;基于监控序列和累积和控制限,生成监控控制图,根据所述监控控制图判断生产过程是否受控。
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