公开(公告)号：CN117674982B

公开(公告)日：2024-07-30

申请号：CN202311693008.6

申请日：2023-12-11

Applicant: 北京理工大学深圳汽车研究院(电动车辆国家工程实验室深圳研究院)

Inventor： 张峰 ,  曹万科 ,  王文伟 ,  郑文香 ,  王峰 ,  陈俊协 ,  黄金湛 ,  曾金祥

IPC: H04B10/071

Abstract: 本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种光通信系统的回波损耗测量方法及测量系统。本申请的方案通过根据待测件在光通信系统中的偏角和间隙，对待测件在光通信系统中对应位置的模场进行描述，然后根据模场来计算回波损耗测量系统中光耦合器的耦合效率，根据耦合效率选取光耦合器，进而确定光耦合器的耦合参数，再根据耦合参数、耦合效率、光源发射出的光功率和待测件反射到探测器的光功率计算待测件的反射率，最后根据反射率计算待测件在光通信系统中的回波损耗值。采用本申请的测量方法/系统，能够对回波损耗进行有效测量，使得测量结果精度高且测量速度明显提升。

公开(公告)号：CN117674982A

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311693008.6

申请日：2023-12-11

Applicant: 北京理工大学深圳汽车研究院(电动车辆国家工程实验室深圳研究院)

Inventor： 张峰 ,  曹万科 ,  王文伟 ,  郑文香 ,  王峰 ,  陈俊协 ,  黄金湛 ,  曾金祥

IPC: H04B10/071

Abstract: 本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种光通信系统的回波损耗测量方法及测量系统。本申请的方案通过根据待测件在光通信系统中的偏角和间隙，对待测件在光通信系统中对应位置的模场进行描述，然后根据模场来计算回波损耗测量系统中光耦合器的耦合效率，根据耦合效率选取光耦合器，进而确定光耦合器的耦合参数，再根据耦合参数、耦合效率、光源发射出的光功率和待测件反射到探测器的光功率计算待测件的反射率，最后根据反射率计算待测件在光通信系统中的回波损耗值。采用本申请的测量方法/系统，能够对回波损耗进行有效测量，使得测量结果精度高且测量速度明显提升。