公开(公告)号：CN111272083B

公开(公告)日：2021-02-26

申请号：CN202010211633.2

申请日：2020-03-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王姗姗 ,  徐博文 ,  周书红 ,  张南生 ,  郝群 ,  胡摇

IPC: G01B11/02 ,  G01M11/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法，属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜，基于激光干涉仪和激光器，利用光的直线传播原理，分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置，通过对两个位置距离的测量，实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量，同时，降低了测量装置的复杂性。

公开(公告)号：CN111272083A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN202010211633.2

申请日：2020-03-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王姗姗 ,  徐博文 ,  周书红 ,  张南生 ,  郝群 ,  胡摇

IPC: G01B11/02 ,  G01M11/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法，属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜，基于激光干涉仪和激光器，利用光的直线传播原理，分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置，通过对两个位置距离的测量，实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量，同时，降低了测量装置的复杂性。