公开(公告)号：CN103808263B

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：CN201410023721.4

申请日：2014-01-20

Applicant: 北京派得伟业科技发展有限公司 ,  北京农业信息技术研究中心

Inventor： 吴建伟 ,  杨宝祝 ,  明博 ,  申光磊 ,  辛颖 ,  韩建冰 ,  彭浩 ,  孙明军

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种谷粒粒形参数的高通量检测方法，包括以下步骤，搭建粒形检测平台；检测环境标定；影像采集与图像分割；轮廓提取与特征参数采集；利用粒形参数预设阈值进行粘连籽粒与杂质筛除；分析轮廓内图像，实现高通量颜色及纹理特征检测；输出谷物粒形参数检测结果。该粒形参数检测方法，其检测结果准确可靠，相比人工测量方法而言，极大地提高了检测效率和稳定性。能够满足基因研究中对谷粒粒形参数的检测需求。实现简单，检测高效准确，达到了应用的要求。

公开(公告)号：CN103808263A

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201410023721.4

申请日：2014-01-20

Applicant: 北京派得伟业科技发展有限公司 ,  北京农业信息技术研究中心

Inventor： 吴建伟 ,  杨宝祝 ,  明博 ,  申光磊 ,  辛颖 ,  韩建冰 ,  彭浩 ,  孙明军

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种谷粒粒形参数的高通量检测方法，包括以下步骤，搭建粒形检测平台；检测环境标定；影像采集与图像分割；轮廓提取与特征参数采集；利用粒形参数预设阈值进行粘连籽粒与杂质筛除；分析轮廓内图像，实现高通量颜色及纹理特征检测；输出谷物粒形参数检测结果。该粒形参数检测方法，其检测结果准确可靠，相比人工测量方法而言，极大地提高了检测效率和稳定性。能够满足基因研究中对谷粒粒形参数的检测需求。实现简单，检测高效准确，达到了应用的要求。