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公开(公告)号:CN115827349A
公开(公告)日:2023-03-21
申请号:CN202211468895.2
申请日:2022-11-22
IPC分类号: G06F11/22 , G06F11/263 , G06F11/30
摘要: 本说明书公开了一种CPU功耗测试设备、方法、系统、控制芯片及测试芯片。首先,通过利用控制芯片的第一片内总线、第一通用输入输出控制器、片间总线、测试芯片的第二片内总线建立控制用CPU和测试芯片的第二存储单元之间的连接,接着,利用控制用CPU从控制芯片的第一存储单元中读取测试程序,且控制用CPU可以通过第一通用输入输出控制器和所述片间总线将读取到的测试程序写入至测试芯片的第二存储单元,实现针对CPU的功耗测试所需的快速方便的测试平台的构建,提升了测试平台重复使用性和广泛适配性。
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公开(公告)号:CN116886263A
公开(公告)日:2023-10-13
申请号:CN202310835858.9
申请日:2023-07-07
申请人: 武汉大学
摘要: 本申请在利用TVLA进行侧信道泄漏检测时,发现泄漏点聚集分布,且泄漏点分布段内的功耗序列间,对相关序列进行自相关性检验,发现存在较高的自相关性。如果忽视序列间的相关性,进行对序列进行T‑检验可能存在漏检风险。为了解决上述问题,本申请提出了改进的TVLA的检测流程,在检测过程增加了对功耗序列间自相关性的评估,并提出基于离散Fréchet距离相似性的侧信道泄漏检测方法,将序列间自相关系数较高功耗时间序列看成一个整体,进行检验。最后根据检测流程形成基于离散Fréchet距离相似性检验泄漏检测平台,用于实际的侧信道泄漏检测。本发明可以解决传统TVLA进行在泄漏检测时,忽视序列间的相关性,T‑检验存在的漏检风险问题。
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