公开(公告)号：CN118731511A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410747218.7

申请日：2024-06-11

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网冀北电力有限公司计量中心 ,  国家电网有限公司

Inventor： 成睿绮 ,  高杰 ,  袁瑞铭 ,  翟振 ,  杨小娟 ,  仝傲宇 ,  罗宗兰 ,  李文文

IPC: G01R29/08 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明涉及芯片电磁兼容领域，提供一种测量通路谐振效应评估方法及装置、电磁干扰测试方法。所述方法包括：对芯片电磁干扰测试的测量结果进行频谱分析，以初步确定引起测量通路谐振效应的谐振频段；对测量系统进行频域测试，根据频域测试结果预测测量系统的测量通路的谐振点；利用仿真软件对测量系统进行测量仿真得到仿真结果，根据仿真结果对引起测量通路谐振效应的谐振频段以及测量通路的谐振点进行验证，以评估测量系统的测量通路谐振效应。本发明通过分析引起测量通路谐振效应的谐振频段和谐振点，通过仿真结果对其进行验证，确定高精度测量的影响因素，指导芯片电磁兼容标准的制定和芯片高可靠设计。