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公开(公告)号：CN112052184A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202011049951.X
申请日：2020-09-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开一种测试脚本的自动生成方法，应用于芯片操作系统，该方法包括：判断是否获取到所有输入内容中的所有内容信息，内容信息包括目录结构信息、指令列表信息、共用函数信息、配置信息以及脚本模板信息；在确定获取到所有内容信息情况下，获取开发需求信息，基于开发需求信息生成结构创建脚本，结构创建脚本用于生成待测试文件结构；基于指令列表信息创建指令测试脚本集和公共脚本集；基于指令列表信息生成与指令测试脚本集对应的指令测试脚本，以及基于指令列表信息生成与公共脚本集对应的公共脚本；将待测试文件结构、指令测试脚本和公共脚本存储于脚本模板信息，生成芯片操作系统的测试脚本。本发明还公开一种测试脚本的自动生成装置。
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公开(公告)号：CN109635610B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201811512829.4
申请日：2018-12-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC分类号： G06K7/10
摘要： 本发明公开了一种RFID标签数据的读写系统及方法，该系统包括：RFID标签、第一标签读写器、第二标签读写器、主站系统。第一标签读写器将密文数据写入RFID标签。第二标签读写器读取密文数据，内部的安全芯片对密文数据进行解密获得明文数据，并将内部预置的验证码与明文数据的验证码进行对比，若一致则对明文数据进行加密产生第二密文数据，产生一随机数并对随机数进行加密，第二标签读写器将第二密文数据、随机数明文以及随机数密文均上传。主站系统接收上传的数据对随机数的密文进行解密，然后将解密后的数与随机数明文进行对比，若一致则主站系统对第二密文数据进行解密获取明文数据。该系统及方法提升了标签数据的安全性以及读写标签数据的便利性。
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公开(公告)号：CN112052439A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202011053457.0
申请日：2020-09-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种嵌入式系统的访问权限控制方法，所述控制方法包括：获取并运行权限编辑后应用，在所述嵌入式系统处于第一运行状态时运行所述权限编辑后应用；确定所述权限编辑后应用是否执行系统调用；在所述权限编辑后应用执行所述系统调用的情况下，生成对应的调用控制结果。本发明还公开了一种嵌入式系统的访问权限控制装置。通过在用户态应用程序使用前配置对应的权限控制信息，通过该权限控制信息对应用的指定文件或指定路径下的所有文件进行控制权限的配置，从而能够在较低资源占用的基础上，实现对用户态应用程序的访问权限快速、批量化配置，大大降低了配置复杂度，提高了配置效率。
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公开(公告)号：CN112052184B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202011049951.X
申请日：2020-09-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开一种测试脚本的自动生成方法，应用于芯片操作系统，该方法包括：判断是否获取到所有输入内容中的所有内容信息，内容信息包括目录结构信息、指令列表信息、共用函数信息、配置信息以及脚本模板信息；在确定获取到所有内容信息情况下，获取开发需求信息，基于开发需求信息生成结构创建脚本，结构创建脚本用于生成待测试文件结构；基于指令列表信息创建指令测试脚本集和公共脚本集；基于指令列表信息生成与指令测试脚本集对应的指令测试脚本，以及基于指令列表信息生成与公共脚本集对应的公共脚本；将待测试文件结构、指令测试脚本和公共脚本存储于脚本模板信息，生成芯片操作系统的测试脚本。本发明还公开一种测试脚本的自动生成装置。
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公开(公告)号：CN112213582B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202011048442.5
申请日：2020-09-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明公开一种电子模块的检测系统，该系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数，模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与电子模块电连接，用于实时控制电子模块按照模块参数运行；检测模块，与电子模块电连接，用于对运行中的电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足技术人员的实际检测需求。
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公开(公告)号：CN112782467A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202011561648.8
申请日：2020-12-25
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC分类号： G01R22/00 , G06F9/4401
摘要： 本发明实施方式涉及智能电表技术领域，特别涉及一种基于嵌入式操作系统的智能电表，所述智能电表中的嵌入式操作系统包括硬件层、启动层和驱动层，还包括应用层和系统层，所述应用层包括若干应用程序，所述系统层包括：应用接口子层，用于提供所述系统层与所述应用程序的接口；设备管理子层，用于向所述应用接口子层提供与驱动设备框架的接口；函数集合子层，用于提供文件操作函数集合，供所述驱动层中的设备向所述驱动设备框架注册；驱动实现子层，用于提供所述驱动设备框架对注册后的设备进行管理；标准库子层，用于提供标准驱动库，所述标准驱动库中的标准驱动用于驱动所述注册后的设备。本发明提供的实施方式便于智能电表的功能开发。
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公开(公告)号：CN112213582A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202011048442.5
申请日：2020-09-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明公开一种电子模块的检测系统，该系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数，模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与电子模块电连接，用于实时控制电子模块按照模块参数运行；检测模块，与电子模块电连接，用于对运行中的电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足技术人员的实际检测需求。
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公开(公告)号：CN109635610A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811512829.4
申请日：2018-12-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC分类号： G06K7/10
CPC分类号： G06K7/10257
摘要： 本发明公开了一种RFID标签数据的读写系统及方法，该系统包括：RFID标签、第一标签读写器、第二标签读写器、主站系统。第一标签读写器将密文数据写入RFID标签。第二标签读写器读取密文数据，内部的安全芯片对密文数据进行解密获得明文数据，并将内部预置的验证码与明文数据的验证码进行对比，若一致则对明文数据进行加密产生第二密文数据，产生一随机数并对随机数进行加密，第二标签读写器将第二密文数据、随机数明文以及随机数密文均上传。主站系统接收上传的数据对随机数的密文进行解密，然后将解密后的数与随机数明文进行对比，若一致则主站系统对第二密文数据进行解密获取明文数据。该系统及方法提升了标签数据的安全性以及读写标签数据的便利性。
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公开(公告)号：CN116331047A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310309021.0
申请日：2023-03-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司
摘要： 本发明公开了一种充电桩的交易验证方法，应用于充电桩的计费控制终端，所述方法包括：在读取到充电卡的情况下，确定被选择用于提供电能的目标充电机枪的机枪标识和所述充电卡中的冻结资源数据，并从安全芯片中获取终端标识和密钥索引号；在所述密钥索引号能够被所述充电卡支持的情况下，接收所述充电卡发送的伪随机数、资源脱机交易序号；向所述安全芯片发送初始化灰锁消息认证码计算命令，以得到消费密钥对应的子密钥；向所述充电卡发送灰锁命令，以指示所述充电卡进行交易验证。由此通过计费控制终端的专用安全芯片进行安全数据交互，可以有效防范伪造计费控制终端身份、重放攻击等攻击手段对充电控制系统造成恶意破坏。
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公开(公告)号：CN115048317B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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