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公开(公告)号：CN112130061B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202011347884.X
申请日：2020-11-26
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本发明提供一种芯片同步测试装置及芯片同步测试方法，属于芯片测试领域。所述芯片同步测试装置包括：通讯测试电路，包括多个通讯线路端口，用于多个芯片的同步测试；高密连接器电路，用于所述通讯测试电路与待测芯片设备的连接；USB选择电路，用于根据待测芯片的通讯接口类型接通对应的芯片测试接口；所述USB选择电路包括一个用于区分不同通讯接口类型芯片测试通路的1:3协议芯片。本发明通过设置多种接口类型芯片测试电路，实现芯片测试类型多样性，每种类型的通讯测试线路均包括多个端口扩展芯片，将测试通路扩展为多个，实现多个芯片的同步测试。解决了现有技术无法同步测试多个芯片的问题。
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公开(公告)号：CN115113019A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210553120.9
申请日：2022-05-20
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。
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公开(公告)号：CN112130061A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202011347884.X
申请日：2020-11-26
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供一种芯片同步测试装置及芯片同步测试方法，属于芯片测试领域。所述芯片同步测试装置包括：通讯测试电路，包括多个通讯线路端口，用于多个芯片的同步测试；高密连接器电路，用于所述通讯测试电路与待测芯片设备的连接；USB选择电路，用于根据待测芯片的通讯接口类型接通对应的芯片测试接口；所述USB选择电路包括一个用于区分不同通讯接口类型芯片测试通路的1:3协议芯片。本发明通过设置多种接口类型芯片测试电路，实现芯片测试类型多样性，每种类型的通讯测试线路均包括多个端口扩展芯片，将测试通路扩展为多个，实现多个芯片的同步测试。解决了现有技术无法同步测试多个芯片的问题。
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公开(公告)号：CN112100013A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202011290441.1
申请日：2020-11-18
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。
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公开(公告)号：CN112100015A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202011301399.9
申请日：2020-11-19
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本发明提供一种芯片测试装置和一种芯片测试方法，属于芯片测试领域。所述测试装置包括：测试设备库；底层函数库，封装有与所述测试设备库对应的接口函数库和数据处理函数库；关键字库，封装有用于调用的关键字；业务应用层，用于存储、执行和编写测试功能模块，所述业务应用层通过所述测试功能模块调用所述关键字库所形成的测试逻辑，组合和调用所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法驱动所述测试设备库对应的设备产生相应的测试信号，实现对所述芯片的测试。本发明通过测试装置完成对芯片的自动化测试，加快了芯片的测试开发进度。
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公开(公告)号：CN115495293A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211045263.5
申请日：2022-08-30
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明实施例提供一种测试应用程序接口API的方法及系统，属于芯片或电路评价技术领域。所述API设于测试机，该方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。该方法实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。
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公开(公告)号：CN112100013B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202011290441.1
申请日：2020-11-18
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。
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