公开(公告)号：CN119881584A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510374465.1

申请日：2025-03-27

Applicant: 北京怀柔实验室

Inventor： 唐新灵 ,  魏晓光 ,  杜玉杰 ,  代安琪 ,  李玲 ,  刘鉴辉 ,  张浩 ,  杨光

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/00

Abstract: 本申请提供了一种高温阻断测试电路、测试装置和测试方法，该电路包括电连接的交流电压源支路、直流电压源支路、门极电压源支路和接地开关，在接地开关和交流电压源支路的控制开关均闭合的情况下，采用交流电压源支路对被测功率半导体器件进行高温交流阻断测试；在接地开关和直流电压源支路的控制开关均闭合的情况下，采用直流电压源支路对被测功率半导体器件进行高温直流阻断测试；在接地开关断开，且门极电压源支路的控制开关闭合的情况下，采用门极电压源支路对被测功率半导体器件进行高温门极反偏测试。该电路通过控制不同电压源的接入，实现被测功率半导体器件高温交流阻断、高温直流阻断以及高温门极反偏的筛选及可靠性测试。

公开(公告)号：CN119881582A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510374448.8

申请日：2025-03-27

Applicant: 北京怀柔实验室

Inventor： 魏晓光 ,  唐新灵 ,  杨光 ,  刘瑞 ,  王靖飞 ,  代安琪 ,  杜玉杰 ,  张浩

IPC: G01R31/26 ,  G01K7/02 ,  G01K7/16

Abstract: 本申请公开了一种结温监测系统及结温监测方法，用于提升功率半导体器件结温的测量精度并实现其实时在线监控。系统包括功率半导体器件、感温元件和数据处理单元，其中，感温元件设置在功率半导体器件的电极中的目标位置处，感温元件用于获取目标位置的温度，数据处理单元，与感温元件电连接，用于根据与感温元件对应的目标位置的位置信息、接收的感温元件获取的温度数据以及预设模型，计算得到功率半导体器件的结温信息。本申请的监测系统，能够实时掌握功率半导体器件的结温，为预防热失效、优化工作状态和延长器件寿命提供了有力的技术支持。