公开(公告)号：CN118392979A

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202410446870.5

申请日：2024-04-15

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 刘秀成 ,  申扬 ,  王钰珏 ,  吴斌

IPC: G01N27/83 ,  G01N27/82 ,  G06T7/00 ,  G06T5/50 ,  G06F18/15 ,  G06F18/213

Abstract: 本发明公开了一种基于漏磁与磁扰动检测原理的缺陷复合成像方法，属于无损检测技术领域；包括：利用漏磁与磁扰动阵列传感器扫查铁磁构件获取缺陷信号；对获取的原始漏磁与磁扰动扫查结果进行数字带通滤波与一阶求导处理，获得阵列漏磁信号与磁扰动信号的二维矩阵；提取漏磁和磁扰动阵列信号的缺陷最大峰峰值及各参数缺陷峰峰值，将漏磁和磁扰动信号根据各自最大缺陷峰峰值进行归一化处理；计算每个缺陷漏磁与磁扰动总和信号的漏磁权重比与磁扰动权重比；构建复合成像的特征矩阵；将特征矩阵进行三次样条插值成像。该方法利用权重特征值与归一化处理，可实现焊缝缺陷的漏磁与磁扰动复合成像，融合两种检测原理的缺陷检测优势。