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公开(公告)号：CN112231888B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202010895385.8
申请日：2020-08-31
Applicant: 北京工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G01B11/00 , G01M13/00 , G06F111/10 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于激光追踪测量系统机械结构的理想动力学模型建立方法，该模型针对于激光追踪测量系统的机械结构理想情况，分析激光追踪测量系统的机械结构运动与力的关系，建立动力学模型精确计算激光追踪测量系统机械结构两轴运动的力矩大小，最后对模型进行了不同运动状态下的验证分析，本发明对激光追踪测量系统跟踪性能的研究以及机械结构的优化改进具有重要意义。
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公开(公告)号：CN112231888A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202010895385.8
申请日：2020-08-31
Applicant: 北京工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G01B11/00 , G01M13/00 , G06F111/10 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于激光追踪测量系统机械结构的理想动力学模型建立方法，该模型针对于激光追踪测量系统的机械结构理想情况，分析激光追踪测量系统的机械结构运动与力的关系，建立动力学模型精确计算激光追踪测量系统机械结构两轴运动的力矩大小，最后对模型进行了不同运动状态下的验证分析，本发明对激光追踪测量系统跟踪性能的研究以及机械结构的优化改进具有重要意义。
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公开(公告)号：CN111256615A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010193248.X
申请日：2020-03-18
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于直反射三光路激光外差干涉的渐开线样板测量方法，属于精密测量领域，根据渐开线生成原理的几何特性，求取渐开从齿根到齿顶过程中，基圆运动的距离。求取理论上双基圆盘运动位移。双基圆盘样板的渐开线曲线方程。基于激光外差干涉的双基圆盘式渐开线样板测量系统测得基圆柱的位移。直反射三光路激光外差干涉系统实际测量得到的渐开线齿廓和理想渐开线齿廓。基于直反射三光路激光外差干涉的渐开线样板测量结果；对测量结果进行样板精度等级评定。本发明突破渐开线样板高精度测量技术的瓶颈，并建立基准渐开线齿形误差的测量方法，为渐开线量值传递体系的建立、实现量值溯源国家标准提供技术支持。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113819840A
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202110877662.7
申请日：2021-08-01
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于直反射三光路激光外差干涉渐开线样板测量的光学非线性误差补偿方法，属于精密测量领域。本发明用于补偿此光学系统中双频激光频率混叠导致的非线性误差一次谐波和二次谐波。分别根据连续小波变换原理和最小二乘非线性拟合方法，对非线性误差函数进行Morlet小波变换，利用产生的小波系数矩阵信息提取小波脊线，分析小波脊线上的特征信息进行小波系数重构，得到对非线性一次谐波的补偿离散数据阵列。基于最小二乘非线性拟合方法迭代拟合出非线性二次谐波的补偿离散数据阵列。最后，通过阵列减法得到补偿后的非线性误差数据。本发明对基于直反射三光路激光外差干涉渐开线样板测量结果精度的提升有着重要作用。
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公开(公告)号：CN113819840B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110877662.7
申请日：2021-08-01
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/00 , G01B9/02055
Abstract: 本发明公开了一种基于直反射三光路激光外差干涉渐开线样板测量的光学非线性误差补偿方法，属于精密测量领域。本发明用于补偿此光学系统中双频激光频率混叠导致的非线性误差一次谐波和二次谐波。分别根据连续小波变换原理和最小二乘非线性拟合方法，对非线性误差函数进行Morlet小波变换，利用产生的小波系数矩阵信息提取小波脊线，分析小波脊线上的特征信息进行小波系数重构，得到对非线性一次谐波的补偿离散数据阵列。基于最小二乘非线性拟合方法迭代拟合出非线性二次谐波的补偿离散数据阵列。最后，通过阵列减法得到补偿后的非线性误差数据。本发明对基于直反射三光路激光外差干涉渐开线样板测量结果精度的提升有着重要作用。
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公开(公告)号：CN112033300B
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202010741134.4
申请日：2020-07-29
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于直反射三光路激光外差干涉渐开线样板测量的光学系统方法，本发明用于分析此光学系统的光学模型以及系统中光学元件的参数非理想对干涉能量和条纹对比度的影响。根据双频激光器出射光的偏振性质，结合系统中光学元件的琼斯矩阵，分别建立参考光干涉信号模型和三条测量光路的测量信号模型、干涉能量模型与干涉条纹对比度模型。结合模型分析分光镜分光比、偏振分光镜透射率和反射率、检偏器放置角度等相关参数对干涉能量和条纹对比度的影响。本发明对光学系统的搭建、光学元件的选择、测量系统的结构优化、测量结果的精度提高有着重要指导意义，提供了重要的理论参考。
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公开(公告)号：CN111256615B
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202010193248.X
申请日：2020-03-18
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于直反射三光路激光外差干涉的渐开线样板测量方法，属于精密测量领域，根据渐开线生成原理的几何特性，求取渐开从齿根到齿顶过程中，基圆运动的距离。求取理论上双基圆盘运动位移。双基圆盘样板的渐开线曲线方程。基于激光外差干涉的双基圆盘式渐开线样板测量系统测得基圆柱的位移。直反射三光路激光外差干涉系统实际测量得到的渐开线齿廓和理想渐开线齿廓。基于直反射三光路激光外差干涉的渐开线样板测量结果；对测量结果进行样板精度等级评定。本发明突破渐开线样板高精度测量技术的瓶颈，并建立基准渐开线齿形误差的测量方法，为渐开线量值传递体系的建立、实现量值溯源国家标准提供技术支持。
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公开(公告)号：CN112033300A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202010741134.4
申请日：2020-07-29
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于直反射三光路激光外差干涉渐开线样板测量的光学系统方法，本发明用于分析此光学系统的光学模型以及系统中光学元件的参数非理想对干涉能量和条纹对比度的影响。根据双频激光器出射光的偏振性质，结合系统中光学元件的琼斯矩阵，分别建立参考光干涉信号模型和三条测量光路的测量信号模型、干涉能量模型与干涉条纹对比度模型。结合模型分析分光镜分光比、偏振分光镜透射率和反射率、检偏器放置角度等相关参数对干涉能量和条纹对比度的影响。本发明对光学系统的搭建、光学元件的选择、测量系统的结构优化、测量结果的精度提高有着重要指导意义，提供了重要的理论参考。
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