公开(公告)号：CN119740206A

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN202411917922.9

申请日：2024-12-24

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 杨聪彬 ,  王永琪 ,  刘志峰 ,  崔富荣 ,  邓浩良 ,  闫俊

IPC: G06F18/27 ,  G06F18/25 ,  G06F18/20 ,  G06F17/18 ,  G06N7/01

Abstract: 本发明公开了一种基于多源离散型数据融合的数控机床可靠性评估方法，属于机床可靠性评估领域，具体是通过多位专家根据可靠性试验阶段的各项试验数据，结合相似数控机床的平均故障间隔时间确定目标机床平均故障间隔时间的分位值，在此基础上反解出目标机床的参数分布区间。之后，引入环境因子将可靠性试验阶段数据和相似机床的离散型故障数据折算到外场阶段数据中。最后，利用最小二乘法对外场阶段离散型故障数据的分布参数进行求解及评估，以此完成数控机床的多阶段来源数据进行融合，解决数控机床样本数量少、评估不准确的问题。