氮化铝膜参数提取方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114964356A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210384332.9

    申请日:2022-04-13

    Abstract: 本发明提出一种氮化铝膜参数提取方法,涉及材料参数提取技术领域,能够精确提取氮化铝膜的材料系数。根据本发明实施例中的氮化铝膜参数提取方法,包括:基于待测氮化铝膜制作参数提取组件;测量参数提取组件的阻抗谱,并根据阻抗谱计算得到参数提取组件中待测氮化铝膜的介电常数;测量参数提取组件的属性参量,并根据属性参量计算得出待测氮化铝膜的压电系数与弹性系数;将待测氮化铝膜的介电常数、压电系数与弹性系数进行整合,得到待测氮化铝膜的材料参数。在本发明实施例中的方法中,由于对氮化铝膜各类材料系数进行分开提取,从而能够减少积累误差,提高提取精度。

    三维异质集成的柔性封装结构及制造方法

    公开(公告)号:CN112864100B

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202110045947.4

    申请日:2021-01-14

    Abstract: 本申请公开了一种三维异质集成的柔性封装结构及制造方法。柔性封装结构包括:第一柔性材料层上设置至少两个芯片,第一金属互联层设置在第一柔性材料层中并连接对应的芯片,第二柔性材料层设置在第一柔性材料层上并包裹芯片,导电柱设置在第二柔性材料层中并贯穿设置,导电柱连接对应的第一金属互联层,第三柔性材料层设置在第二柔性材料层上,第二金属互联层设置在第三柔性材料层中并连接对应的芯片或导电柱,第一金属互联层和第二金属互联层呈弯折状。通过设置导电柱与金属互联层,使得不同芯片可以在柔性材料中电连接,无需对芯片进行减薄,且将金属互联层设置为弯折状,在弯折拉伸的情况下不会出现断裂等失效问题。

    三维异质集成的柔性封装结构及制造方法

    公开(公告)号:CN112864100A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110045947.4

    申请日:2021-01-14

    Abstract: 本申请公开了一种三维异质集成的柔性封装结构及制造方法。柔性封装结构包括:第一柔性材料层上设置至少两个芯片,第一金属互联层设置在第一柔性材料层中并连接对应的芯片,第二柔性材料层设置在第一柔性材料层上并包裹芯片,导电柱设置在第二柔性材料层中并贯穿设置,导电柱连接对应的第一金属互联层,第三柔性材料层设置在第二柔性材料层上,第二金属互联层设置在第三柔性材料层中并连接对应的芯片或导电柱,第一金属互联层和第二金属互联层呈弯折状。通过设置导电柱与金属互联层,使得不同芯片可以在柔性材料中电连接,无需对芯片进行减薄,且将金属互联层设置为弯折状,在弯折拉伸的情况下不会出现断裂等失效问题。

    一种集成电路三维异质集成芯片及封装方法

    公开(公告)号:CN111564429A

    公开(公告)日:2020-08-21

    申请号:CN202010356668.5

    申请日:2020-04-29

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路三维异质集成芯片及封装方法,其方法包括:通过临时键合工艺将不同的IC器件键合在第一辅助衬底圆片上,将IC器件和第一辅助衬底圆片通过键合层键合在第二辅助衬底圆片上;减薄第一辅助衬底圆片;利用晶圆级键合技术将第二辅助衬底圆片上的IC器件键合在最终衬底上,去除第二辅助衬底圆片;在IC器件和第一辅助衬底圆片之间填充有机物;重复上述操作以形成若干异质集成层,并在填充层上设置连接IC器件的布线孔,通过电线以实现若干异质集成层电学互联;将多余最终衬底除掉,划片并封装。本发明有效降低三维堆叠芯片的制作难度,集中更多的资源专注器件的性能提升,从而实现高可制造性、高性能、高稳定性的三维异质集成芯片。

    氮化铝膜参数提取方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114964356B

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202210384332.9

    申请日:2022-04-13

    Abstract: 本发明提出一种氮化铝膜参数提取方法,涉及材料参数提取技术领域,能够精确提取氮化铝膜的材料系数。根据本发明实施例中的氮化铝膜参数提取方法,包括:基于待测氮化铝膜制作参数提取组件;测量参数提取组件的阻抗谱,并根据阻抗谱计算得到参数提取组件中待测氮化铝膜的介电常数;测量参数提取组件的属性参量,并根据属性参量计算得出待测氮化铝膜的压电系数与弹性系数;将待测氮化铝膜的介电常数、压电系数与弹性系数进行整合,得到待测氮化铝膜的材料参数。在本发明实施例中的方法中,由于对氮化铝膜各类材料系数进行分开提取,从而能够减少积累误差,提高提取精度。

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