-
公开(公告)号：CN102156259B
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201110083982.1
申请日：2011-04-02
Applicant: 北京大学深圳研究生院
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明公开了一种集成电路的测试方法和一种集成电路，采用基于扫描的测试方法，包括：测试开始时，扫描使能信号有效，扫描触发器连接为链状而构成移位寄存器，将一组测试输入矢量通过所述移位寄存器提供给集成电路；当测试输入矢量提供完毕时，所述扫描使能信号变为无效，使所述集成电路按预定条件循环工作多个周期，直至满足预定循环终止条件时，循环终止；当循环终止时，所述扫描使能信号变为有效，将所述集成电路循环终止时的输出作为测试输出矢量通过所述移位寄存器移出。本发明方法可以有效提高测试效率，节省测试时间，同时还能检测到电路是否存在时序故障。
-
公开(公告)号：CN103018646A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201110282433.7
申请日：2011-09-21
Applicant: 北京大学深圳研究生院 , 南通富士通微电子股份有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种面向SoC芯片的晶圆级高温老化测试调度的方法，利用测试模式下芯片所产生的高热量对芯片进行加热，以电路节点功耗为导向的，通过选择不同温控能力的测试矢量，控制各测试矢量的施加时间，从而控制电路模块或SoC芯片的测试温度，并控制WLTBI测试持续时间；通过优化电路测试路径，安排测试数据在不同测试路径上的发送时序，从而增强测试并行性，减少测试时间。本发明可以根据测试要求，在同一测试架构下灵活配置测试方案，可达提高老化测试的精确性和减少测试成本的目的。
-
公开(公告)号：CN1837835A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200610035151.6
申请日：2006-04-18
Applicant: 北京大学深圳研究生院
Abstract: 本发明公开了一种高频时钟抖动测量电路，该电路包括：第一振荡信号产生单元，产生周期为TV1的第一振荡信号；第二振荡信号产生单元，产生周期为TV2的第二振荡信号，且触发第二振荡信号产生单元起振的被测时钟信号边沿比触发第一振荡信号产生单元起振的被测时钟信号边沿晚一个周期，同时TV2小于TV1；第一复位控制单元，用于在第二振荡信号超前于第一振荡信号时输出复位触发信号；第一计数单元，用于在第二振荡信号开始起振后对第二振荡信号的周期计数，在复位触发信号到达后复位，输出第二振荡信号的周期数。本发明不需要外部基准时钟也可测量时钟抖动，具有精度高、易实现的特点。
-
公开(公告)号：CN103280241A
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201310140365.X
申请日：2013-04-22
Applicant: 北京大学深圳研究生院
IPC: G11C29/56
Abstract: 本申请公开了一种存储器的测试电路及方法，测试信号写入被测存储列后，执行器读取被测存储列中的数据，在读取操作中，引入单元将反映被测存储列上电流大小的电压信号引入振荡环，振荡环的工作频率会受被测存储列上电流大小影响，通过读取振荡环的实际频率即可进行故障判断，从而确定被测存储列是否存在固定故障或因存储单元阈值电压VTH漂移所引起的软故障，并可进一步确定故障位置；由于将故障引起的被测存储列上电流大小变化转换为振荡环频率大小的变化，使得测试精度更高。
-
公开(公告)号：CN101159433B
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200610063027.0
申请日：2006-10-08
Applicant: 北京大学深圳研究生院
Abstract: 本发明公开了一种快速锁相环电路，包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控振荡器、分频器和快速锁定电路，鉴频鉴相器接收输入信号和分频器的反馈信号，并得到它们的信号差异，电荷泵响应该信号差异，对环路滤波电路进行充电放电，环路滤波器的输出电压控制压控振荡器产生锁相环输出信号，锁相环输出信号经过分频器分频后反馈至鉴频鉴相器输入端。快速锁定电路则响应鉴频鉴相器输出的信号差异，在所述锁相环电路接近锁定状态时，仅有较小电流的电荷泵对环路滤波器充电/放电，在输入信号和分频器的反馈信号之间的频率差异较大时，则增加较大电流的电荷泵对环路滤波器充电/放电。本发明在保证了系统稳定性的前提下提高了锁相环电路的锁定速度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102156259A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201110083982.1
申请日：2011-04-02
Applicant: 北京大学深圳研究生院
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明公开了一种集成电路的测试方法和一种集成电路，采用基于扫描的测试方法，包括：测试开始时，扫描使能信号有效，扫描触发器连接为链状而构成移位寄存器，将一组测试输入矢量通过所述移位寄存器提供给集成电路；当测试输入矢量提供完毕时，所述扫描使能信号变为无效，使所述集成电路按预定条件循环工作多个周期，直至满足预定循环终止条件时，循环终止；当循环终止时，所述扫描使能信号变为有效，将所述集成电路循环终止时的输出作为测试输出矢量通过所述移位寄存器移出。本发明方法可以有效提高测试效率，节省测试时间，同时还能检测到电路是否存在时序故障。
-
公开(公告)号：CN103280241B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201310140365.X
申请日：2013-04-22
Applicant: 北京大学深圳研究生院
IPC: G11C29/56
Abstract: 本申请公开了一种存储器的测试电路及方法，测试信号写入被测存储列后，执行器读取被测存储列中的数据，在读取操作中，引入单元将反映被测存储列上电流大小的电压信号引入振荡环，振荡环的工作频率会受被测存储列上电流大小影响，通过读取振荡环的实际频率即可进行故障判断，从而确定被测存储列是否存在固定故障或因存储单元阈值电压VTH漂移所引起的软故障，并可进一步确定故障位置；由于将故障引起的被测存储列上电流大小变化转换为振荡环频率大小的变化，使得测试精度更高。
-
公开(公告)号：CN102035551B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN201010516781.1
申请日：2007-11-20
Applicant: 北京大学深圳研究生院
Abstract: 本发明公开了一种采样保持器，包括第一级采样保持电路和第二级采样保持电路，第一级采样保持电路的输入正、负端接入外部信号，第一级采样保持电路的输出正、负端耦合到第二级采样保持电路的输入正、负端，第一级采样保持电路具有实现低于一倍数放大的第一级运算放大器，第二级采样保持电路具有实现高于一倍数放大的第二级运算放大器，外部信号经由第一、二级采样保持电路相配合的采样、保持以及放大作用后，从第二级采样保持电路的输出正、负端输出。本发明同时公开了一种采样保持方法。作为一种信号处理基本模块，本发明用于对外部输入信号进行前端处理，在实现高可靠性的前提下，以结构的简单保证信号转换的速度、精度。
-
公开(公告)号：CN100559192C
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200710074151.1
申请日：2007-04-24
Applicant: 北京大学深圳研究生院
Abstract: 本发明公开了一种相位频率鉴别器，该相位频率鉴别器的第一、二预置模块分别包括一PMOS管和一NMOS管，两PMOS管的源极分别接有逻辑高电平，两NMOS管源极分别接有逻辑低电平，两PMOS管或两NMOS管的栅极分别接有复位信号，接有复位信号的两MOS管的漏极分别与未接复位信号的两MOS管的栅极相连，未接复位信号的两MOS管的漏极分别与第一、二输出节点电连接。本发明的相位频率鉴别器的复位信号不需经多个传输门延迟即可对输出节点进行预置。本发明实现了在复位的同时完成预置位，只要等待输入信号的边沿触发信号一来临，就可以迅速完成相位频率差异的鉴别，提高了相位频率鉴别器的工作速度。
-
公开(公告)号：CN101098140A
公开(公告)日：2008-01-02
申请号：CN200710076245.2
申请日：2007-06-28
Applicant: 北京大学深圳研究生院
IPC: H03L7/085
Abstract: 本发明公开了一种快速锁定的鉴频鉴相器，第一支路包括第一开关管、第二开关管、第三开关管和第四开关管，第一开关管的控制极响应外部参考信号，第一主电流导通极耦合到电源，第二主电流导通极串联第三开关管和第四开光管的主电流导通极后接地；第二开关管的控制极响应外部参考信号，第一主电流导通极耦合到第一开关管的第二主电流导通极，第二主电流导通极输出第一充放电控制信号；第二支路包括第五开关管、第六开关管、第七开关管和第八开关管，具有和第一支路相同的电路结构；第四开关管和第七开关管的控制极分别响应第一充放电控制信号，第三开关管和第八开关管的控制极分别响应第二充放电控制信号。本发明消除了传统鉴频鉴相器的传输特性曲线在2π处的错误，并加快了锁相的过程。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
20
records
(took 0.023 seconds)
