公开(公告)号：CN102156259B

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN201110083982.1

申请日：2011-04-02

Applicant: 北京大学深圳研究生院

Inventor： 李崇仁 ,  赵青 ,  崔小乐 ,  王新安 ,  张兴

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种集成电路的测试方法和一种集成电路，采用基于扫描的测试方法，包括：测试开始时，扫描使能信号有效，扫描触发器连接为链状而构成移位寄存器，将一组测试输入矢量通过所述移位寄存器提供给集成电路；当测试输入矢量提供完毕时，所述扫描使能信号变为无效，使所述集成电路按预定条件循环工作多个周期，直至满足预定循环终止条件时，循环终止；当循环终止时，所述扫描使能信号变为有效，将所述集成电路循环终止时的输出作为测试输出矢量通过所述移位寄存器移出。本发明方法可以有效提高测试效率，节省测试时间，同时还能检测到电路是否存在时序故障。

公开(公告)号：CN102156259A

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：CN201110083982.1

申请日：2011-04-02

Applicant: 北京大学深圳研究生院

Inventor： 李崇仁 ,  赵青 ,  崔小乐 ,  王新安 ,  张兴

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种集成电路的测试方法和一种集成电路，采用基于扫描的测试方法，包括：测试开始时，扫描使能信号有效，扫描触发器连接为链状而构成移位寄存器，将一组测试输入矢量通过所述移位寄存器提供给集成电路；当测试输入矢量提供完毕时，所述扫描使能信号变为无效，使所述集成电路按预定条件循环工作多个周期，直至满足预定循环终止条件时，循环终止；当循环终止时，所述扫描使能信号变为有效，将所述集成电路循环终止时的输出作为测试输出矢量通过所述移位寄存器移出。本发明方法可以有效提高测试效率，节省测试时间，同时还能检测到电路是否存在时序故障。