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公开(公告)号:CN101312412B
公开(公告)日:2013-07-24
申请号:CN200710099616.9
申请日:2007-05-25
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明提供一种在嵌入式环境下的以太网传输系统,属于通讯技术领域。其技术核心是通过ARP处理实现灵活的网络连接,使用协议栈实现数据的封装和解析,在嵌入式系统中实现以太网传输过程中的客户端和服务器进程,系统根据发送数据的需要自动切换运行状态。本发明可以应用在网络传输方面,特别适合需要数据实时传输的监控系统。
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公开(公告)号:CN101312412A
公开(公告)日:2008-11-26
申请号:CN200710099616.9
申请日:2007-05-25
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明提供一种在嵌入式环境下的以太网传输系统,属于通讯技术领域。其技术核心是通过ARP处理实现灵活的网络连接,使用协议栈实现数据的封装和解析,在嵌入式系统中实现以太网传输过程中的客户端和服务器进程,系统根据发送数据的需要自动切换运行状态。本发明可以应用在网络传输方面,特别适合需要数据实时传输的监控系统。
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公开(公告)号:CN101581758A
公开(公告)日:2009-11-18
申请号:CN200810106526.2
申请日:2008-05-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明提出一种非接触卡芯片WAFER级测试电路,由数字测试机PATTERN向主控MCU发送控制PATTERN,主控MCU解析控制PATTERN,根据PATTERN指示与射频信号处理电路通信,射频信号处理电路根据主控MCU指示产生相应的数据编码,然后将编码信号调制处理,产生两路调试信号(载波相位相差180度),经过射频接口功率放大、阻抗匹配后,通过通道控制电路,被输入到WAFER级芯片的天线端口LA、LB PAD,芯片接受调制信号并返回应答信号,应答信号通过射频接口的阻抗匹配电路后,输入到射频信号处理电路,射频信号处理电路对应答信号解调、解码后输入到主控MCU,主控MCU校验后,将数据返回到数字测试机PATTERN,数字测试机通过PATTERN比较的方式判断芯片的响应信号是否正确,如果响应信号正确,则被测试芯片属于良品,反之为次品。
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