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公开(公告)号:CN101295344A
公开(公告)日:2008-10-29
申请号:CN200710098676.9
申请日:2007-04-25
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明用于射频非接触智能卡中CPU处理接收数据的方法。读卡器与射频卡通讯时,射频卡接收读卡器发送的数据,经过解调和解码后,送出接收的数据给CPU处理。但在遵循ISO14443类型A的非接触智能卡协议中,编码方式是miller码,载波被miller码调制,几乎每个码元或字符中都有载波暂停(pause)。载波暂停时芯片没有载波信号,芯片无外部电源能量,也可能无时钟。所以CPU对解码后输出给CPU的数据(字符)难以处理。本发明使用较为新颖的方法,在解码完每个字节后的下一个接收字节被解调或解码的同时,使CPU工作在适当的频率下来快速处理接收到的前一个字节,如此就能实现数据的边接收边处理。
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公开(公告)号:CN100561498C
公开(公告)日:2009-11-18
申请号:CN200710098676.9
申请日:2007-04-25
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明用于射频非接触智能卡中CPU处理接收数据的方法。读卡器与射频卡通讯时,射频卡接收读卡器发送的数据,经过解调和解码后,送出接收的数据给CPU处理。但在遵循ISO14443类型A的非接触智能卡协议中,编码方式是miller码,载波被miller码调制,几乎每个码元或字符中都有载波暂停(pause)。载波暂停时芯片没有载波信号,芯片无外部电源能量,也可能无时钟。所以CPU对解码后输出给CPU的数据(字符)难以处理。本发明使用较为新颖的方法,在解码完每个字节后的下一个接收字节被解调或解码的同时,使CPU工作在适当的频率下来快速处理接收到的前一个字节,如此就能实现数据的边接收边处理。
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公开(公告)号:CN101174310A
公开(公告)日:2008-05-07
申请号:CN200610114292.7
申请日:2006-11-03
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06K19/00
Abstract: 本发明是用于智能卡芯片的一种测试电路。一般的智能卡芯片测试电路,测试压焊点(PAD)较多,测试设备复杂。本发明增加了较少额外的测试PAD,在测试时利用测试PAD和射频天线PAD就能测试芯片全部功能,这样可以有效的减少芯片的面积、并降低了对逻辑测试设备的要求。本发明只需要4个PAD,即两个射频天线PAD,一个地PAD和一个测试输入输出双向PAD,其中复用了卡片正常工作的两个射频天线PAD。在测试时,射频PAD输入载波信号或已调制的载波信号,为芯片及测试电路提供时钟和电源以及部分测试码,芯片测试电路保证了从测试双向PAD或射频天线PAD输入的测试码按测试要求对芯片逻辑电路、模拟电路、射频电路和存储器等的正确测试,并输出测试结果。
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