-
公开(公告)号:CN118917329A
公开(公告)日:2024-11-08
申请号:CN202411044724.6
申请日:2024-07-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06K7/00
Abstract: 本发明公开了一种智能卡测试系统。根据本发明实施例的智能卡测试系统包括安装架;传动杆,传动杆安装在安装架上,传动杆的第一端用于安装待测试的智能卡;驱动装置,驱动装置与传动杆的第二端相连接,其中,安装架包括多个安装位置,多个安装位置包括第一安装位置和第二安装位置;传动杆安装在第一安装位置时,传动杆与安装架接触的位置介于第一端和第二端之间,驱动装置驱动传动杆移动以使待测试的智能卡在第一范围内移动;传动杆安装在第二安装位置时,传动杆与安装架接触的位置介于第一端和第二端之间,驱动装置驱动传动杆移动以使待测试的智能卡在第二范围内移动。根据本发明实施例的智能卡测试系统,能够实现智能卡测试的标准化。
-
公开(公告)号:CN118960743A
公开(公告)日:2024-11-15
申请号:CN202411060008.7
申请日:2024-08-02
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01C21/20
Abstract: 本发明公开了一种路径指引方法、路径指引装置、存储介质及电子设备。根据本发明实施例的路径指引方法包括:接收指引信号,所述指引信号包括至少一个子指引信号;处理所述指引信号,将最先接收到的子指引信号作为首径子指引信号,将信号强度最强的子指引信号作为最强径子指引信号;对所述指引信号进行处理,得到所述指引信号对应的工况种类;根据所述工况种类,将所述首径子指引信号或所述最强径子指引信号作为路径指引参考数据;以及根据所述路径指引参考数据,得到指引路径。根据本发明实施例的路径指引方法、路径指引装置、存储介质及电子设备,能够在非视距的情况下,完成复杂空间的路径指引。
-
公开(公告)号:CN119271477A
公开(公告)日:2025-01-07
申请号:CN202411469012.9
申请日:2024-10-21
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种多接口并发测试装置及方法。根据本发明实施例的多接口并发测试装置包括被控测试模块,所述被控测试模块分别连接至待测试单元的第一测试端口和第二测试端口;主控测试模块,所述主控测试模块与所述被控测试模块相连接,其中,所述主控测试模块控制所述被控测试模块与所述第一测试端口间的通讯和/或所述被控测试模块与所述第二测试端口间的通讯,以控制所述被控测试模块与所述第一测试端口和所述第二测试端口间通讯的时序。根据本发明实施例的多接口并发测试装置及方法,能够准确控制时序,快速、正确地实现多接口并发通讯测试。
-
公开(公告)号:CN222896425U
公开(公告)日:2025-05-23
申请号:CN202421839557.X
申请日:2024-07-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06K7/00
Abstract: 本实用新型公开了一种智能卡测试系统。该智能卡测试系统包括安装架;传动杆,传动杆安装在安装架上,传动杆的第一端用于安装待测试的智能卡;驱动装置,驱动装置与传动杆的第二端相连接,其中,安装架包括多个安装位置,多个安装位置包括第一安装位置和第二安装位置;传动杆安装在第一安装位置时,传动杆与安装架接触的位置介于第一端和第二端之间,驱动装置驱动传动杆移动以使待测试的智能卡在第一范围内移动;传动杆安装在第二安装位置时,传动杆与安装架接触的位置介于第一端和第二端之间,驱动装置驱动传动杆移动以使待测试的智能卡在第二范围内移动。根据本实用新型实施例的智能卡测试系统,能够实现智能卡测试的标准化。
-
-
-