公开(公告)号：CN102956574A

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：CN201110245306.X

申请日：2011-08-25

申请人： 力成科技股份有限公司

发明人： 黄宛玉 ,  苏庭锋

IPC分类号： H01L23/31 ,  H01L23/13 ,  G06K19/077

CPC分类号： H01L2224/05554 ,  H01L2224/32145 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2924/1815 ,  H01L2924/00014

摘要： 本发明公开了一种小基板存储卡封装构造，以一具有开孔的金属承载座取代现有基板的承载功能，以缩小基板的尺寸。一基板贴设于金属承载座的下方。第一晶片设置于该基板上并位于该开孔内。第二晶片设置于金属承载座上并且不覆盖该开孔。一卡片形的封胶体密封金属承载座、该基板的上表面、第一晶片以及第二晶片。该基板的外形小于封胶体的外形，并且该基板具有一凹凸不平的侧边并被封胶体包覆，以使该基板的下表面贴平于封胶体的底面并增加基板与封胶体的结合力。

公开(公告)号：CN101738298B

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN200810175549.9

申请日：2008-11-07

申请人： 力成科技股份有限公司

发明人： 苏庭锋

IPC分类号： G01M7/08

摘要： 本发明是有关一种掉落测试装置及其使用方法。该掉落测试装置，其包含：一固定架，设有一滑座，该滑座具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，设置于该滑座上，连接有一调整升降的试样架，该试样架提供一第一基准面，该治具提供一第二基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，该治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，该夹具夹设一待测试物件。本发明的能适用于不同尺寸的待测试物件、测试不同角度的掉落表面，并且能调整不同的测试条件。

公开(公告)号：CN101738298A

公开(公告)日：2010-06-16

申请号：CN200810175549.9

申请日：2008-11-07

申请人： 力成科技股份有限公司

发明人： 苏庭锋

IPC分类号： G01M7/08

摘要： 本发明是有关一种掉落测试装置及其使用方法。该掉落测试装置，其包含：一固定架，设有一滑座，该滑座具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，设置于该滑座上，连接有一调整升降的试样架，该试样架提供一第一基准面，该治具提供一第二基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，该治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，该夹具夹设一待测试物件。本发明的能适用于不同尺寸的待测试物件、测试不同角度的掉落表面，并且能调整不同的测试条件。