一种沟槽栅型IGBT器件及其制备方法、装置

    公开(公告)号:CN110571270A

    公开(公告)日:2019-12-13

    申请号:CN201910870940.9

    申请日:2019-09-16

    IPC分类号: H01L29/739 H01L21/331

    摘要: 本发明公开一种沟槽栅型IGBT器件及其制备方法、装置,其中,沟槽栅型IGBT器件,包括沟槽栅结构,其第四功能区层位于第三功能区层与第一电极之间,在第三功能区层上设置有第二功能区层,在第二功能区层的内部成型第一功能区层、第三电极、第一电极层和第二电极层,在第二电极上成型介质层,介质层位于第二电极与第三电极之间,第三电极的一端面与介质层接触,第三电极的另一端面和侧壁区域被第一电极层包围,第二电极层与介质层平行且与沟槽栅结构的底部区域接触,第一功能区层分别与第二电极和介质层接触且设置在沟槽栅结构的两侧,以及在沟槽栅结构设置第二电极层可使得沟槽栅型IGBT器件的反向传输电容得到有效降低。

    一种功率半导体器件的结终端结构

    公开(公告)号:CN116013953A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202111228971.8

    申请日:2021-10-21

    IPC分类号: H01L29/06

    摘要: 本发明提供了一种功率半导体器件的结终端结构,包括:金属化阴极层、第一导电类型半导体区层、第一导电类型半导体漂移区层、第二导电类型半导体区层、金属化阳极层,第一导电类型半导体漂移区和所述金属化阴极分别位于第一导电类型半导体区的正面和背面,第二导电类型半导体区位于第一导电类型半导体漂移区的上部左侧;第三导电类型半导体层及其中的若干沟槽单元和第一导电类型截止环;第三导电类型半导体层位于第一导电类型半导体漂移区上部且与第二导电类型半导体区层横向对接,第一导电类型截止环位于第一导电类型半导体漂移区上部的右侧,沟槽单元的分布密度从第一导电类型半导体区层向第一导电类型截止环的纵长方向逐渐增多。