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公开(公告)号：CN117269133A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311207609.1
申请日：2023-09-19
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本发明公开一种三维即时荧光寿命成像方法与装置，该方法通过对激发光进行相位调制或者全息调制，实现一种非典型聚焦光斑，该光斑具有轴向非对称特征，利用该聚焦光斑实现对样品不同层面同时分区扫描，同时对激发的荧光进行离焦矫正相位调制，实现对不同焦面荧光聚焦在同一面阵探测器的探测面上，结合寿命探测仪器，创新性地实现低像差的三维即时扫描荧光寿命成像，即实现对样品单次二维扫描获得三维荧光寿命信息。相比于传统的层切式扫描荧光寿命成像方法，本发明通过单次二维扫描即可实现三维荧光寿命成像的方法和装置可以明显提高三维荧光寿命成像速度，提高三维荧光寿命成像的可适用范围。
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