一种基于共焦光路像素差分的焦面检测方法及装置

    公开(公告)号:CN115826214A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211480569.3

    申请日:2022-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于共焦光路像素差分的焦面检测方法,该方法基于分别放置在共焦差分光路中的焦前和焦后位置上的两路图像传感器,通过将两路图像传感器获取的离焦光斑形状进行差分,结合后期图像处理,实现了焦面的实时探测跟踪与补偿。还公开了一种基于共焦光路像素差分的焦面检测装置,包括位于光学系统中心光轴上依次排布的光源、滤波准直装置、二分之一波片、偏振分光棱镜、四分之一波片、物镜、样品,以及与偏振分光棱镜共轴依次布置的会聚透镜、分光棱镜和两路图像传感器。本发明与现有的其他焦面检测方法相比,具有装置简单,抗干扰能力强的优点,能实现高精度焦面跟踪定位与补偿。

    一种基于声光偏转扫描的结构光照明显微成像装置及方法

    公开(公告)号:CN114486892B

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202210063094.1

    申请日:2022-01-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于声光偏转扫描的结构光照明显微成像装置及方法,该装置将激发光通过偏振分光器分成两个对称的光路,每个光路各过一个声光偏转模块进行光束的扫描,两光束再通过合束器进行合束,在样品面上进行干涉产生照明条纹。每个光路中的声光偏转模块由两个互相垂直放置的两个声光偏转器以及两个透镜所构成的4f系统组成,通过控制加载在两个声光偏转模块中的各自的两个声光偏转器的载波频率,可以改变每个声光偏转器对光束的在xy平面上的扫描位置,进而得到不同方向的干涉条纹。利用声光偏转器对光束进行扫描,相比于振镜扫描可以获得更快的扫描速度;此外,相对于振镜,声光偏转器具有更高的扫描稳定性,可以实现更稳定的照明条纹。

    一种基于振镜的超分辨激光直写系统的刻写方法及装置

    公开(公告)号:CN114415482A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210324232.7

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于振镜的超分辨激光直写系统的刻写方法及装置,该方法包括:获取待刻写数据和基于振镜的超分辨激光直写系统的单次扫描范围;根据所述单次扫描范围,将所述待刻写数据分割为若干个子数据;根据全局坐标系,对所述子数据进行旋转,得到旋转数据;获取振镜的X极性和Y极性;根据所述X极性和Y极性,对所述旋转数据进行翻转,得到翻转数据;对所述翻转数据之间的拼接重合区域进行拟合,得到刻写数据;根据所述刻写数据,利用基于振镜的超分辨激光直写系统进行刻写。该方法解决振镜与全局坐标系之间存在角度偏差、振镜X/Y轴向与全局坐标轴向不一致和拼接刻写均匀性不一致的问题。

    微透镜的灰度刻写方法、装置、计算机设备以及存储介质

    公开(公告)号:CN117310850A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311223277.6

    申请日:2023-09-21

    Abstract: 本申请涉及一种灰度刻写方法、装置、计算机设备以及存储介质。根据激光光源射出的激光光束确定光栅光阀的入射光斑;通过所述光栅光阀的子单元对所述入射光斑进行相位调制,确定子单元的一级衍射光场;根据所述子单元的一级衍射光场确定刻写线光场;通过道威棱镜带动所述刻写线光场旋转,确定旋转光场;根据微透镜的曲面结构,确定所述刻写线光场的目标光强分布梯度;根据所述旋转光场、所述刻写线光场和所述目标光强分布梯度对微透镜进行灰度刻写。上述方法能够提高微透镜的加工效率,同时提高微透镜的光洁度。

    电路板和转接器
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115996515B

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310277812.X

    申请日:2023-03-21

    Abstract: 本申请涉及一种电路板和转接器。电路板包括基板、接口组和连接器。基板包括堆叠设置的布线层、第一接地层和第二接地层;所述布线层包括上布线层和下布线层;所述第一接地层和所述第二接地层设置于所述上布线层和所述下布线层之间;所述第一接地层靠近所述上布线层设置;所述第二接地层靠近所述下布线层设置;所述第一接地层与所述第二接地层共用接地端;接口组设置于所述上布线层,用于与输入设备和输出设备连接;所述接口组包括多个与所述布线层电连接的信号接口;连接器设置于所述下布线层,用于与处理器连接;所述连接器与所述布线层电连接;所述信号接口通过所述布线层与所述连接器电连接。

    激光直写系统刻写方法、装置及计算机设备

    公开(公告)号:CN116382043A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310399542.X

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 本申请涉及一种激光直写系统刻写方法、装置及计算机设备。所述激光直写系统包括图像传感模块、振镜、位移台,所述方法包括:确定所述位移台移动的第一距离与所述图像传感模块像素点对应移动的第二距离之间的第一关系;基于所述第一关系和预设系数确定振镜电压与刻写长度的第二关系;基于所述第二关系对待刻写文件进行刻写。本申请通过确定振镜电压与刻写长度的第二关系,可以在刻写前直接确定当前刻写环境中的最佳系统参数,根据需要刻写的长度精确控制振镜电压,有效提高实际刻写长度的精确度,解决了多视场刻写可能存在的拼接错位问题,无论是在单视场范围内刻写还是大面积刻写的应用场景都能够有效提高刻写准确率,进而提高刻写成功率。

    一种基于振镜的超分辨激光直写系统的刻写方法及装置

    公开(公告)号:CN114415482B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202210324232.7

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于振镜的超分辨激光直写系统的刻写方法及装置,该方法包括:获取待刻写数据和基于振镜的超分辨激光直写系统的单次扫描范围;根据所述单次扫描范围,将所述待刻写数据分割为若干个子数据;根据全局坐标系,对所述子数据进行旋转,得到旋转数据;获取振镜的X极性和Y极性;根据所述X极性和Y极性,对所述旋转数据进行翻转,得到翻转数据;对所述翻转数据之间的拼接重合区域进行拟合,得到刻写数据;根据所述刻写数据,利用基于振镜的超分辨激光直写系统进行刻写。该方法解决振镜与全局坐标系之间存在角度偏差、振镜X/Y轴向与全局坐标轴向不一致和拼接刻写均匀性不一致的问题。

    一种利用光引发剂实现超分辨刻写与成像的方法和装置

    公开(公告)号:CN116300310B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202310020668.1

    申请日:2023-01-06

    Abstract: 一种利用光引发剂实现超分辨激光直写与成像的方法,通过在光刻胶单体中加入的光引发剂7‑二乙基氨‑3‑(2‑噻吩基)香豆素(DETC),利用边缘光抑制效应(PPI),可以实现高精度激光直写;同时,利用其本身的荧光发光特性,及其存在的本征受激辐射效应,还可以实现超分辨受激辐射损耗显微成像(STED)。本发明利用DETC这些特性,在同一个装置中同时构建激光直写系统和显微成像系统,同时实现高精度刻写与超分辨成像。相比于掺杂荧光染料的方式,简化了光刻胶的成分,在一个系统中同时实现高精度刻写与超分辨成像,将刻写系统中的抑制光光路复用于成像系统中的损耗光路,有效简化了系统。本发明还包括一种利用光引发剂实现超分辨激光直写与成像的装置。

    光斑自动跟焦装置及其方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116233606A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310513844.5

    申请日:2023-05-09

    Abstract: 本申请提供一种光斑自动跟焦装置及其方法。该光斑自动跟焦装置包括光源、光学系统、物镜、物镜压电位移器、四象限光电探测器及控制系统,光源发出的入射光束经由光学系统和物镜通过入射光路入射到样品表面,其中,四象限光电探测器用于接收经样品表面反射并经由物镜和光学系统通过反射光路出射的反射光束,并将反射光束的光信号转换为四路电信号;控制系统用于基于四路电信号来确定入射到样品表面的入射光斑的离焦量,并基于入射光斑的离焦量来生成补偿控制信号给物镜压电位移器;物镜压电位移器用于基于补偿控制信号来控制物镜沿轴向移动以使入射光斑能够始终聚焦于样品表面。本申请能够自动控制物镜轴向运动以达到自动跟焦目标。

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