公开(公告)号：CN116256607A

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN202111462960.6

申请日：2021-12-02

申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 ,  中芯国际集成电路制造(北京)有限公司

发明人： 郁扬 ,  宋丰 ,  何作鹏 ,  张超 ,  蔡燕飞 ,  王俊

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R1/067

摘要： 一种测试电路结构及其形成方法和测试方法。其中测试电路结构包括：衬底；位于所述衬底上的若干待测样品，所述若干待测样品沿第一方向和第二方向呈阵列排布，所述第一方向和所述第二方向不同；位于所述衬底上的若干第一衬垫层，各所述第一衬垫层与沿所述第二方向的同一列待测样品电连接；位于所述衬底上的若干第二衬垫层，各所述第二衬垫层与沿所述第一方向的同一行待测样品电连接。从而，在探针数量固定的情况下，每次测试的待测样品的数量达到最大化，获取更多缺陷的概率也相应提升，同时也减少了探针插拔的次数，延长探针的寿命。

公开(公告)号：CN115993870A

公开(公告)日：2023-04-21

申请号：CN202111221309.X

申请日：2021-10-20

申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 ,  中芯国际集成电路制造(北京)有限公司

发明人： 陈方雄 ,  郑广伟 ,  翁芊 ,  宋丰 ,  李秋良

IPC分类号： G05F1/625

摘要： 一种供电电路及电子设备，所述供电电路包括：初始电压提供单元，耦接于稳压单元，适于为所述稳压单元提供初始电压；所述稳压单元，适于基于所述初始电压生成对应的供电电压并输出；对所述供电电压进行检测，并当检测到所述供电电压小于预设的电压阈值时，对所述供电电压进行调整，直至所述供电电压大于所述电压阈值。上述的方案，可以提高供电电路的续航能力和稳定输出供电电压的能力，提高供电电路的工作性能。