公开(公告)号：CN202025039U

公开(公告)日：2011-11-02

申请号：CN201020691446.0

申请日：2010-12-24

Applicant: 中科院杭州射频识别技术研发中心 ,  中科院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 尹应增 ,  崔恒荣 ,  徐明 ,  陆云龙 ,  孙晓玮

IPC: G01R27/02

Abstract: 本实用新型涉及超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试使用设备，其特征在于：包括中央处理器、微波信号源、多探针测量系统、平衡不平衡变换器巴伦以及电容耦合的探针，电容耦合的探针通过平衡不平衡变换器巴伦连接多端口功率测量系统，中央处理器通过微波信号源给多端口(探针)功率测量系统提供信号；设备还设有电源模块、蜂鸣器、显示器，电源模块给整个系统提供电源，蜂鸣器、显示器分别与中央处理器连接。本实用新型的有益效果是在标签贴上芯片之前，测量出标签天线的输入阻抗，有效的降低生产成本，精确的反映出标签天线与芯片之间的匹配程度，并且适合各种类型的标签天线的测试。

公开(公告)号：CN102162824A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN201010616164.9

申请日：2010-12-24

Applicant: 中科院杭州射频识别技术研发中心 ,  中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 尹应增 ,  崔恒荣 ,  徐明 ,  陆云龙 ,  孙晓玮

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明涉及超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法，其特征在于：测试方法的步聚是：首先，通过探针末端金属小圆盘和标签天线贴芯片的焊盘处进行容性耦合；其次，将探针耦合下来的信号通过补偿巴伦进行平衡-不平衡和阻抗变换；然后，将通过补偿巴伦变换下来的信号再通过槽线反射计原理，采样提取出槽线上几个固定点的功率信息；最后，利用获得的这几个点功率信息，通过处理计算，就可获得端口加载的反射系数，从而推算出标签天线的输入阻抗。本发明的有益效果是在标签贴上芯片之前，测量出标签天线的输入阻抗，有效的降低生产成本，精确的反映出标签天线与芯片之间的匹配程度，并且适合各种类型的标签天线的测试。

公开(公告)号：CN102162824B

公开(公告)日：2014-11-26

申请号：CN201010616164.9

申请日：2010-12-24

Applicant: 中科院杭州射频识别技术研发中心 ,  中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 尹应增 ,  崔恒荣 ,  徐明 ,  陆云龙 ,  孙晓玮

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明涉及超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法，其特征在于：测试方法的步聚是：首先，通过探针末端金属小圆盘和标签天线贴芯片的焊盘处进行容性耦合；其次，将探针耦合下来的信号通过补偿巴伦进行平衡-不平衡和阻抗变换；然后，将通过补偿巴伦变换下来的信号再通过槽线反射计原理，采样提取出槽线上几个固定点的功率信息；最后，利用获得的这几个点功率信息，通过处理计算，就可获得端口加载的反射系数，从而推算出标签天线的输入阻抗。本发明专利的有益效果是在标签贴上芯片之前，测量出标签天线的输入阻抗，有效的降低生产成本，精确的反映出标签天线与芯片之间的匹配程度，并且适合各种类型的标签天线的测试。