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公开(公告)号：CN118758559A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410926800.X
申请日：2024-07-11
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种调谐源扫描速度的测试装置及测试方法，测试装置包括标准调谐源、待测调谐源、光开关、分束器、延时线、合束器、功率计、程控衰减器、光电探测器、信号分析仪和控制计算机。本发明的测试方法通过对测试获得的拍频信号进行快速解析，实现对调谐源调试过程中扫描速度指标的快速标定，提高调谐源不同扫描速度下致动器驱动策略的快速收敛能力，为调谐源扫描速度测试提供快速、准确的测试方法，有效缩减测试时间，提升生产效率，解决了传统依赖致动器转速或者精密干涉测距仪测量转臂行进距离来反推调谐源扫描速度方法存在实际和理论偏差程度难以准确估量的难题。
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公开(公告)号：CN118274974A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410369877.1
申请日：2024-03-29
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明属于光学波长精密检测领域，具体涉及多通道快速光学波长精密检测模块校准装置及校准方法。该校准方法利用标准光波长检测单元作为波长参考，通过波长扫描光源、待校准单元及标准波长检测单元的脉冲同步采集技术，一次可实现至少2个甚至更多的同步校准，单个模块校准模块可迅速完成，时间可缩短至几十秒钟，且每次可迅速校准多个模块，相比较于基于常规校准方法，该方法的校准效率提升了近千倍。所采用的标准光波长检测单元相比于光波长计仪器成本可大大降低几十倍。
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公开(公告)号：CN118040443A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311800652.9
申请日：2023-12-26
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: H01S3/08 , H01S3/08036 , H01S3/086 , H01S3/105
Abstract: 本发明公开了一种提高外腔可调谐激光器扫频线性度的装置与方法，属于测试技术领域。本发明装置可实现Littman结构外腔可调谐激光器波长线性扫描，解决传统Littman结构外腔可调谐激光器波长扫描非线性的问题；本发明方法可根据实际结构推导致动器致动量与波长变化量的关系，反推联动装置结构参数，消除Littman结构外腔可调谐激光器波长扫描非线性参量；本发明装置，可大幅度降低可调谐激光器系统本身的触发要求，降低基于可调谐激光器测试系统的测试要求，提高测试效率、降低测试成本，简化测试系统。
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公开(公告)号：CN117804612A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311515184.0
申请日：2023-11-14
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明公开了一种窄线宽激光波长检测装置及方法，属于检测技术领域。本发明通过偏振分光、光路开关、偏振无关分光的综合分光方案，基于光栅衍射角度、F‑P标准具的透射率对波长的选择特性，采用衍射光栅宽带滤波、单F‑P标准具错峰透射设计，通过基于衍射光栅滤波、双级F‑P标准具错峰透射的逐次波长标定的方法，实现高稳定、大范围、高精度波长检测；解决了现有波长检测方案对入射光偏振态敏感的问题；利用特殊设计分光棱镜，单个F‑P标准具可实现双路错峰透射，大大降低了成本与装配工艺要求；所发明的基于衍射光栅滤波结合两级F‑P标准具的三级逐次波长标定的方法，提高了检测波长范围，提高了检测精度，可实现多波长测量。
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公开(公告)号：CN117768031A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311509355.9
申请日：2023-11-14
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: H04B10/50 , H04B10/564 , H04B10/079
Abstract: 本发明公开了一种提升外腔扫频激光源自发辐射信噪比的装置与方法，属于信息技术领域，本发明通过对自动测试获得的自发辐射信噪比分布迹线进行深入分析，实现对外腔扫频激光源自发辐射信噪比提升所需分束立方分光比的自动解析，并以此为基础实现对宽带有源半导体区域与准直整形模块的一体化集成，实现了高自发辐射信噪比扫频信号的可控激射，为智能化高速相干网络可重构传输、光纤三维形状频域传感、高精度气体光谱测量和自动驾驶等领域提供先进的测试仪器，同时也进一步扩大外腔扫频激光源的应用范围，为外腔扫频激光源增加应用场景，促进外腔扫频激光源产业的快速发展；本发明降低了生产成本，谐振输出指标多样性满足不同用户群体。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116026567A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310207304.4
申请日：2023-03-06
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于激光器测试领域，提供了一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法及系统，通过对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布轨迹线分析确定延展腔扫频源的最大输出功率和最小驱动电流；通过对调谐波长与容差电流分布轨迹线分析确定最佳工作电流点；通过测试不同控制温度下谐振输出波长分布数据得到调谐波长与控制温度部分轨迹线，对调谐波长与控制温度分布轨迹线分析确定最佳工作控制温度点；基于最佳工作电流点和最佳工作控制温度点构成延展腔扫频源最佳工作点并输出。本发明解决传统在片测试系统对种子源工作参数的测试不能有效表征延展腔谐振单元总体性能对扫频源系统的兼容性而导致扫频源输出指标性能差异大的问题。
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公开(公告)号：CN113381805B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110649973.8
申请日：2021-06-10
Applicant: 青岛兴仪电子设备有限责任公司 , 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: H04B10/073
Abstract: 本发明公开了基于矢量网络分析仪的TOSA带宽快速测量装置及方法，矢量网络分析仪的输出端口Port1与程控衰减器连接，程控衰减器通过偏置器与单刀多掷射频开关连接；所述单刀多掷射频开关，用于与标准TOSA的一端连接，标准TOSA的另外一端通过光开关与光分束器连接；所述单刀多掷射频开关，还用于与被测TOSA的一端连接，被测TOSA的另外一端通过光开关与光分束器连接；所述光分束器分别与光电转换模块和光功率计连接；光电转换模块与矢量网络分析仪的输入端口Port2连接；单刀多掷射频开关和光开关均与控制单元连接，所述控制单元与矢量网络分析仪连接。提高TOSA测试效率，适合产线批量TOSA带宽参数测试需求。
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公开(公告)号：CN115326367A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202211040772.9
申请日：2022-08-29
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明提出了一种基于LM‑TL的增益芯片参数自动测试方法及系统，涉及芯片测试技术领域,该方法包括：将样品增益芯片接入Littman‑Metcalf型可调谐激光器，设置测试参数，做测试前准备；对样品增益芯片依次进行光功率测试、光波长测试、放大自发辐射光谱测试，得到光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据；对光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据进行分析，判定样品增益芯片是否合格，得到增益芯片参数及测试结果；本发明通过采用宽范围自由空间光外腔扫频激光源作为测试设备，对不同批次、不同波导光束出射角度及不同激射中心波长的半蝶形封装增益芯片特征参数进行自动测试及分析。
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公开(公告)号：CN113375837B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202110656335.9
申请日：2021-06-11
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种光量子BOTDR光纤温度系数自动测量方法及装置。该装置包括：依次连接的直接探测型光纤温度分布测试仪、恒温箱和计算机；所述恒温箱内设有若干用于放置样品光纤的测试光路，并对样品光纤环境温度进行模拟；所述直接探测型光纤温度分布测试仪，用于样品光纤后向弹性散射光量子功率和布里渊‑斯托克斯组分光量子功率的分布测量；所述计算机，基于样品光纤后向弹性散射光量子功率分布数据和样品光纤后向布里渊‑斯托克斯组分光量子功率分布数据，得到功率比值，基于功率比值得到所有通道的样品光纤温度标定系数。
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公开(公告)号：CN117969028A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410292442.1
申请日：2024-03-14
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明属于测试测量技术领域，涉及光波元件分析仪中光电转换模块频响参数的校准方法。一种基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，包括：步骤1：特征频率响应数据采集；步骤2：频率响应跳变点判定；步骤3：频率响应跳变点数据拟合；步骤4：校准频率点响应数据非线性拟合。本发明的方法采用基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，在低频段减少点数，在高频段增加点数，随着频率的升高，自适应的采用渐变频点的方法实现光电转换模块的频率响应校准，兼顾校准精度与校准速度，完成校准过程。
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