伪峰信号消除方法及装置

    公开(公告)号:CN112084894B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202010857584.X

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 本发明公开了一种伪峰信号消除方法和装置,该方法包括:获取套管与预设的x个不同源距一一对应的x个电磁壁厚测量数据集;其中,x为大于1的整数;根据所述x个电磁壁厚测量数据集分别获取所述套管的x个电磁壁厚信息集;其中,每个电磁壁厚信息集包括伪峰信号;根据x个电磁壁厚信息集中的任意2个电磁壁厚信息集及与所述任意2个电磁壁厚信息集对应的源距构建系数矩阵;根据所述系数矩阵消除所述任意2个电磁壁厚信息集中的伪峰信号。

    一种多频电成像的数据参数反演方法和装置

    公开(公告)号:CN112253090B

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202011094099.8

    申请日:2020-10-14

    Abstract: 本文公开了一种多频电成像的数据参数反演方法,包括,步骤1,将多频电成像设备测量到的阻抗信号转换为电阻率值,并修正电阻率值;步骤2,根据修正后的地层电阻率和预先建立的井眼环境影响因素仿真库,进行反演确定井眼因素参数;步骤3,根据井眼因素参数校正所测量到的阻抗信号;步骤4,根据校正后的阻抗信号和预先建立的地层参数仿真库,进行反演确定地层参数;步骤5,判断所确定的井眼因素参数和地层参数与测量到的阻抗信号之间的误差是否符合预定的第一误差标准;如果符合,则所确定的井眼因素参数和地层参数确定为所述数据参数;如果不符合,则更新地层电阻率返回步骤2。

    一种校正电阻率方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN112593919A

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN202011387858.X

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本申请实施例公开了一种校正电阻率方法、装置和存储介质,包括:通过电阻率测井仪测量得到视电阻率曲线、井眼直径、泥浆电阻率;根据所测量的井眼直径和泥浆电阻率,利用预设的反演方法确定相应井眼直径和泥浆电阻率下所述电阻率测井仪的等效电阻值;利用所确定的等效电阻值以及所测量的视电阻率曲线、井眼直径、泥浆电阻率,在不同的工作模式下,根据预先建立的等效电阻和校正系数关系图版进行校正,得到校正后的视电阻率曲线。通过本公开的方案,可以消除了电路内阻的影响,获得更加真实的仪器测量信息。

    伪峰信号消除方法及装置

    公开(公告)号:CN112084894A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN202010857584.X

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 本发明公开了一种伪峰信号消除方法和装置,该方法包括:获取套管与预设的x个不同源距一一对应的x个电磁壁厚测量数据集;其中,x为大于1的整数;根据所述x个电磁壁厚测量数据集分别获取所述套管的x个电磁壁厚信息集;其中,每个电磁壁厚信息集包括伪峰信号;根据x个电磁壁厚信息集中的任意2个电磁壁厚信息集及与所述任意2个电磁壁厚信息集对应的源距构建系数矩阵;根据所述系数矩阵消除所述任意2个电磁壁厚信息集中的伪峰信号。

    一种校正电阻率方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN112593919B

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202011387858.X

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本申请实施例公开了一种校正电阻率方法、装置和存储介质,包括:通过电阻率测井仪测量得到视电阻率曲线、井眼直径、泥浆电阻率;根据所测量的井眼直径和泥浆电阻率,利用预设的反演方法确定相应井眼直径和泥浆电阻率下所述电阻率测井仪的等效电阻值;利用所确定的等效电阻值以及所测量的视电阻率曲线、井眼直径、泥浆电阻率,在不同的工作模式下,根据预先建立的等效电阻和校正系数关系图版进行校正,得到校正后的视电阻率曲线。通过本公开的方案,可以消除了电路内阻的影响,获得更加真实的仪器测量信息。

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