公开(公告)号：CN103576009B

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201210250669.7

申请日：2012-07-19

Applicant: 中国运载火箭技术研究院

Inventor： 彭磊 ,  刘泓 ,  熊盛阳 ,  杜红焱 ,  孙淑英 ,  官岩 ,  赵彦飞 ,  汪翔 ,  吴立强 ,  邬文浩 ,  张爱学 ,  高憬楠 ,  林德建

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明涉及元器件可靠性技术领域，具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为：1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验，获得该电容器电容量退化线性曲线；2、根据退化数据，获得在预设时间内电容量的退化量；3、根据退化线性方程，获得电容量达到电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，并拟合获得时间?温度曲线；4、利用步骤3中获得的时间?温度曲线线性方程，获得常温下电容器电容量达到步骤2中电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，从而判断步骤2中获得该电容器电容量退化量所需时间的合理性。本发明可在高温点加速条件下，在较短的时间内获得准确的贮存试验结果，且在实际条件下可实施。

公开(公告)号：CN103576009A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201210250669.7

申请日：2012-07-19

Applicant: 中国运载火箭技术研究院

Inventor： 彭磊 ,  刘泓 ,  熊盛阳 ,  杜红焱 ,  孙淑英 ,  官岩 ,  赵彦飞 ,  汪翔 ,  吴立强 ,  邬文浩 ,  张爱学 ,  高憬楠 ,  林德建

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明涉及元器件可靠性技术领域，具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为：1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验，获得该电容器电容量退化线性曲线；2、根据退化数据，获得在预设时间内电容量的退化量；3、根据退化线性方程，获得电容量达到电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，并拟合获得时间-温度曲线；4、利用步骤3中获得的时间-温度曲线线性方程，获得常温下电容器电容量达到步骤2中电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，从而判断步骤2中获得该电容器电容量退化量所需时间的合理性。本发明可在高温点加速条件下，在较短的时间内获得准确的贮存试验结果，且在实际条件下可实施。