发射率测量方法、装置、系统、设备及介质

    公开(公告)号:CN118836986A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202411058545.8

    申请日:2024-08-02

    Abstract: 本发明提供一种发射率测量方法、装置、系统、设备及介质,属于光辐射度量技术领域,该方法包括:在待测热辐射体达到第一温度时,获取待测热辐射体的第一辐射参数和对照辐射体的第一对照辐射参数;在待测热辐射体达到第二温度时,获取待测热辐射体的第二辐射参数和对照辐射体的第二对照辐射参数;利用第一辐射参数、第一对照辐射参数、第二辐射参数和第二对照辐射参数确定待测热辐射体的发射率。本发明解决了现有技术中待测热辐射体的发射率值、以及环境辐射值都可能发生较明显变化,导致计算结果偏差较大的问题,使得待测热辐射体的发射率值和环境辐射值的变化都控制在较小的范围内,更易获得接近于真实发射率的值。

    一种旋转式双波长激光测温装置

    公开(公告)号:CN111964793B

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202010825781.3

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供了一种旋转式双波长激光测温装置,其包括:第一激光发生器和第二激光发生器,激光调制器,所述激光调制器与所述第一激光发生器和第二激光发生器连接;第一旋转卡盘,可360°旋转和在特定位置固定,所述第一、第二激光发生器和激光调制器安装在所述第一旋转卡盘上;第二旋转卡盘,可360°旋转和在特定位置固定,其上安装第一、第二热效应探测器和信号放大器。本装置可摆脱传统辐射测温方法对被测物体表面发射率的依赖,并进一步减少了光学元件的数量,可有效降低光学系统的复杂性、提高温度测量精度。

    一种基于光热效应的双波长主动式激光测温装置

    公开(公告)号:CN111879413A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010771348.6

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明提供了一种基于光热效应的双波长主动式激光测温装置,包括:第一激光发生器和第二激光发生器;激光调制器、所述激光调制器与所述第一激光发生器和第二激光发生器连接;待测物体的目标表面在第一激光或第二激光的加热下产生温升△T,目标表面在一定立体角内发出的辐射能经物镜和分光镜,温升对应的辐射信号入射到第一光热效应探测器或第二光热效应探测器;光热效应探测器将光信号转化成热信号;放大器将来自第一光热效应探测器和第二光热效应探测器的信号进行放大;计算电路将电信号转换为温度数值;显示仪表用于显示温度测量数值。本装置可摆脱传统辐射测温方法对被测物体表面发射率的依赖,可便捷和准确地获取被测物理的表面真实温度。

    一种基于瑞利散射的微弱光探测器非线性测量及修正方法与系统

    公开(公告)号:CN119509690A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411616095.X

    申请日:2024-11-13

    Abstract: 本文发明一种基于瑞利散射的微弱光探测器非线性测量及修正方法与系统,属于光学测量技术领域。微弱光探测器是用于探测极低光强的光信号装置,当其在低光强条件下工作,常常会表现出非线性响应,这能显著影响测量结果的准确性和稳定性。因此,进行非线性修正对保证测量数据的可靠性和可重复性至关重要。本发明搭建了基于瑞利散射的微弱光探测器非线性测量系统,利用高精度热电探测器测量入射激光功率,随后用微弱光探测器‑光电倍增管测量散射光功率。设定不同种激光入射功率,得到不同工况下的瑞利散射信号和入射光功率,利用入射激光功率测量值对散射光功率进行了修正。

    一种基于双激光光源的探测器非线性测量装置

    公开(公告)号:CN119354344A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411492970.8

    申请日:2024-10-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于双激光光源的探测器非线性测量装置及方法,包括第一激光器、第二激光器、斩波盘、斩波控制器、第一光阱、第二光阱、镀金积分球、光电探测器、锁相放大器和计算机。本发明可以实现大量值范围的探测器非线性特性测量,兼顾了单次和多次累计测量,并且给出了相应的计算方法。另外,本发明直接通过双激光光源的开关来实现光通量的调节,减少了移动部件,使得测量的稳定性更好。本发明通过采用双激光测量方法,显著简化了光学测量系统,减少滤光片阻挡光线等非理想因素的影响。同时,通过镀金积分球将投射激光进行多次反射后均匀地投射至光电探测器并覆盖整个光敏面,以避免因光敏面的光均匀性差异导致的非线性测量误差。

    辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN116295850A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310131172.1

    申请日:2023-02-17

    Abstract: 本发明涉及辐射测温技术领域,提供一种辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数,确定第一漫反射比;根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角,确定第二漫反射比;根据所述第一漫反射比和所述第二漫反射比,确定第三漫反射比;根据所述第三漫反射比和设定参数确定被测物体的温度。本发明通过测量任意观测角的第三漫反射比,再基于第三漫反射比进行辐射测温,如此,提高了辐射测温的准确性。

    基于融合标准样品的温度测量方法及装置

    公开(公告)号:CN116147778A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211517802.0

    申请日:2022-11-29

    Abstract: 本申请涉及测温领域,提供一种基于融合标准样品的温度测量方法及装置。所述方法包括:获取待测物品和标准样品的辐射相关参数;根据所述标准样品的辐射相关参数,得到环境大气透射比和环境辐射强度;根据所述待测物品的辐射相关参数、所述环境大气透射比和所述环境辐射强度,得到所述待测物品的温度。本申请实施例提供的基于融合标准样品的温度测量方法及装置可以利用环境辐射强度表征待测物品对环境辐射的反射,进而将待测物品自身的辐射和待测物品对环境辐射的反射相结合,以量化待测物品的温度,从而减小温度测量的误差。

    一种基于光通量倍增法的红外探测器非线性测量方法和测量装置

    公开(公告)号:CN111879418A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010771667.7

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明涉及一种基于光通量倍增法的红外探测器非线性测量装置和测量方法,测量装置包括光通量倍增光阑组、挡板、外置红外光学系统和标准红外辐射源。所述测量方法通过半开和全开光阑实现红外辐射源光通量的倍增,被测红外探测器测量获得在上述测量条件下红外辐射源的光通量,通过挡板测量并消除红外辐射源外部的杂散辐射,将上述红外探测器测量得到的输出信号基于光通量倍增法得到该红外探测器响应非线性,该测量方法具有在理论上严格满足探测器非线性原理的特点,实际操作便捷,可以精确、有效的获得红外探测器在宽亮度范围上响应的非线性特征。

    多参量融合标准器及制备方法

    公开(公告)号:CN115752547B

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202211486405.1

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 本发明提供一种多参量融合标准器及制备方法,包括多个第一校准单元和一个第二校准单元:所述第一校准单元包括设定特性量值的第一涂料,用以校准特性线性度和特性量程;其中,每个所述第一校准单元对应的特性量值不同;所述第二校准单元包括设定形状和特性量值的第二涂料和第三涂料,所述第二涂料和所述第三涂料交替形成目标图案,用以校准面分布测量参数,其中,所述第二涂料的特性量值大于所述第三涂料;多个所述第一校准单元和所述第二校准单元呈阵列分布。本发明设置第一校准单元和第二校准单元,在同一空间位置中设置多种校准单元,能够实现同时和同位置的校准,不会引入系列误差。

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