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公开(公告)号：CN116295850A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310131172.1
申请日：2023-02-17
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01J5/00
摘要： 本发明涉及辐射测温技术领域，提供一种辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数，确定第一漫反射比；根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角，确定第二漫反射比；根据所述第一漫反射比和所述第二漫反射比，确定第三漫反射比；根据所述第三漫反射比和设定参数确定被测物体的温度。本发明通过测量任意观测角的第三漫反射比，再基于第三漫反射比进行辐射测温，如此，提高了辐射测温的准确性。
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公开(公告)号：CN116147778A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211517802.0
申请日：2022-11-29
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本申请涉及测温领域，提供一种基于融合标准样品的温度测量方法及装置。所述方法包括：获取待测物品和标准样品的辐射相关参数；根据所述标准样品的辐射相关参数，得到环境大气透射比和环境辐射强度；根据所述待测物品的辐射相关参数、所述环境大气透射比和所述环境辐射强度，得到所述待测物品的温度。本申请实施例提供的基于融合标准样品的温度测量方法及装置可以利用环境辐射强度表征待测物品对环境辐射的反射，进而将待测物品自身的辐射和待测物品对环境辐射的反射相结合，以量化待测物品的温度，从而减小温度测量的误差。
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公开(公告)号：CN109580172B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201811312322.4
申请日：2018-11-06
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明实施例提供一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，该基片包括：积分球、若干个光源、光源驱动控制电路和基板，其中，积分球的底端位于基板上，积分球的顶端处设置第一通孔，若干个光源发出的光能直接或者间接照射到积分球的内壁，每一光源可直接或者间接连接至光源驱动控制电路，光源驱动控制电路可直接或间接与基板连接。本发明实施例提供的一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，制备多个子基片分别实现积分球、光源、光源驱动控制电路等部件的整体或者局部功能，依次堆叠这些子基片后可构建成第一通孔处具有均匀辐射亮度的基片，以满足显微成像设备辐射校准需求。
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公开(公告)号：CN108061601B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201711249595.4
申请日：2017-12-01
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01J3/45
摘要： 本发明提供了一种空心阴极灯的波长标定方法及装置，包括：S1，基于修正后的迈克尔逊干涉仪，采集待标定的空心阴极灯发出的光信号的第一光谱曲线，并从所述第一光谱曲线中提取第一峰值波长，所述迈克尔逊干涉仪具有预设尺寸的口径；S2，基于所述修正后的迈克尔逊干涉仪的修正曲线，确定所述第一峰值波长的准确值，以完成对所述空心阴极灯的波长标定。本发明提供的方法及装置，可以用于标定空心阴极灯的波长。而且，由于采用了大口径的迈克尔逊干涉仪，可以分辨出相差皮米(pm)量级的两种波长，使标定结果更准确。
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公开(公告)号：CN110927842A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201911299505.1
申请日：2019-12-16
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G02B5/00
摘要： 本发明涉及光处理领域，提供一种光谱吸收器，包括：壳体，其为柱状结构，包括底壁、顶壁和侧壁；微结构吸光模块和多个吸光反射镜；导光管，连接于顶壁，并与壳体限制出腔体，导光管下方设有一个吸光反射镜；多个分隔板，连接侧壁和导光管，并将腔体分隔为多个吸光反射腔和至少一个吸收腔，每个吸光反射腔内至少设有两个吸光反射镜，吸收腔内设有微结构吸光模块和吸光反射镜；导光管下方的吸光反射镜、吸光反射腔内的吸光反射镜与吸收腔的吸光反射镜之间形成光通路；导光管的入射光通过光通路进行多级反射吸收后在微结构吸光模块表面被吸光并发生漫反射。本发明提出的光谱吸收器，进行多级吸收和反射，增加光程，提升吸收率，结构简单。
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公开(公告)号：CN108037095A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711248870.0
申请日：2017-12-01
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提供一种黑体绝对发射率的测量装置，包括量子级联激光器、红外透镜、积分球和变口径光阑；所述积分球上设置有第一窗孔和第二窗孔；所述量子级联激光器、所述红外透镜、所述第一窗孔、所述第二窗孔和所述变口径光阑依次排列，位于同一轴线上，并且所述轴线经过所述积分球的球心；黑体可拆卸地安装在所述变口径光阑上。本发明提供的黑体绝对发射率的测量装置，采用量子级联激光器作为光源，通过红外透镜调节入射到黑体内部的光束，通过测量黑体吸收比的方式，根据能量守恒，得出黑体的绝对发射率。该装置结构简单，测量结果精准，可测量不同波长处的黑体的绝对发射率，实用性强。
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公开(公告)号：CN102141515B
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201010599594.4
申请日：2010-12-22
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01N21/59
摘要： 本发明公开了一种曲面材料透射比测量装置，包括：测量模块、比较模块、移动控制模块、存储模块和计算模块，测量模块，用于测量入射信号数据、待测信号数据、入射光斑面积数据、待测光斑面积数据；比较模块，用于比较入射光斑面积数据与待测光斑面积数据，并将比较结果发送至移动控制模块；移动控制模块，用于根据比较模块的比较结果控制测量模块的移动，使入射光斑面积数据与待测光斑面积数据相等；存储模块，用于存储入射信号数据和待测信号数据；计算模块，用于根据入射信号数据和待测信号数据计算待测曲面材料的透射比，直接用于测量曲面材料的反射比，且测量值的准确性高。
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公开(公告)号：CN102128793B
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201010594901.X
申请日：2010-12-17
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01N21/17
摘要： 本发明公开了一种逆反射材料反射比测量装置，包括：依次连接的测量模块、存储模块和计算模块，所述测量模块，用于测量预设信号数据和待测信号数据，并将所述预设信号数据和待测信号数据发送至所述存储模块进行存储；所述存储模块，用于存储所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据；所述计算模块，用于根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比，直接用于测量逆反射材料的反射比，且测量值的准确性高。
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公开(公告)号：CN118658135A
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410670623.3
申请日：2024-05-28
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G06V20/56 , G06V10/22 , G06V10/141
摘要： 本发明提供一种自动驾驶AEB目标物的标定方法，包括：将定标模组置于AEB目标物所属光源环境中；获取包含定标模组与AEB目标物的第一图像信息；根据第一图像信息获取第一待标定区域的第一BRDF值；向第一方向旋转AEB目标物第一预设角度，获取第二图像信息；根据第二图像信息获取第一待标定区域的第二BRDF值；向第二方向旋转AEB目标物第二预设角度，获取第三图像信息；根据第三图像信息获取第一待标定区域的第三BRDF值；根据第一BRDF值、第二BRDF值以及第三BRDF值，确定第一待标定区域的标定结果，并最终确定AEB目标物的标定结果。本发明提供的自动驾驶AEB目标物的标定方法旨在解决传统技术中不易进行AEB目标物的定量判断问题。
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