公开(公告)号：CN119223484A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411390340.X

申请日：2024-10-08

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 黄昂 ,  王景辉 ,  夏文涛 ,  黄帅 ,  杨雪

IPC: G01K11/32 ,  G01K15/00 ,  G01N33/22

Abstract: 本发明提出一种基于气体取样分析的瑞利散射燃烧场气体温度测量方法与系统，属于光学测量技术领域，用于标准火焰燃烧场气体温度测量。与传统的接触式测量火焰温度的方法相比，瑞利散射法不影响火焰特性且具备高精度和高分辨率，现有的瑞利散射火焰温度测量方法普遍需要仿真软件来获取燃烧场中各物质的组分浓度，但是通过仿真获得的数据与实际情况存在一定偏差。本发明采用气体取样的方法来获取燃烧场中各物质的组分浓度，使得燃烧场中各物质浓度的获取不再依赖于仿真软件，具体测量时，将燃气取样瓶通过取样阀门连接到取样点进行取样，随后将燃气取样瓶接入燃气分析仪进行各物质的组分浓度分析。此外，该技术在测量前在常温空气环境中被铂电阻校准，使得该非接触式温度测量结果直接溯源至温度标准ITS‑90。该方法与系统实现了燃烧场气体温度的完备测量，在标准火焰测量方面具有广阔应用前景。

公开(公告)号：CN114965370B

公开(公告)日：2024-09-13

申请号：CN202210450427.6

申请日：2022-04-24

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 黄昂 ,  王景辉 ,  汪洪军 ,  刘鑫涛 ,  董伟 ,  安保林

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明提出一种基于层析成像的双向反射分布函数高精度测量方法，属于双向反射分布函数测量技术领域，用于材料不同照明和探测角度的反射光谱分布测量。现有双向反射分布函数测量方法普遍受到探测光路通光口径大小的影响，高空间分辨率和高信号信噪比不能兼得。本发明采用层析成像与双向反射分布函数相结合的方式，使双向反射分布函数测量的空间分辨率不再依赖于通光孔径大小，同时获得高空间分辨率和高信号信噪比。具体测量时，将被测曲面划分为离散网格，利用光线追迹的方式计算探测信号与离散网格间的灵敏度矩阵，然后利用基于灵敏度矩阵的层析成像方法，实现具有离散网格相同分辨率的双向反射分布函数重建。该方法实现了双向反射分布函数的完备测量，在材料光学参数测量方面具有广阔应用前景。

公开(公告)号：CN119334474A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411463427.5

申请日：2024-10-18

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 黄昂 ,  董伟 ,  王景辉 ,  杨玉健 ,  安保林 ,  杨雪

IPC: G01J5/0802 ,  G01J5/08 ,  G01J5/02 ,  G01J5/10

Abstract: 本发明提出一种基于黑体辐射源的双向反射分布函数(BRDF)多光谱测量方法与系统，属于双向反射分布函数测量技术领域，用于材料不同波段和探测角度的反射光谱分布测量。现有BRDF测量方法普遍受到光源的限制，难以实现不同波段下BRDF分布测量。本发明采用黑体辐射源与滤光片相结合的方式，能够自主选取所需波段，使用两个凹面镜进行光路调整汇聚获得高信噪比，同时搭载六轴机械臂与环形导轨各自独立的运动系统获得高空间分辨率。具体测量时，将黑体辐射源升温至设定温度，通过两个凹面镜调整光路汇聚光束，利用不同滤光片选取对应的波段进行测量。该方法与系统实现了BRDF的完备测量，在材料光学参数测量方面具有广阔应用前景。

公开(公告)号：CN114965370A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210450427.6

申请日：2022-04-24

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 黄昂 ,  王景辉 ,  汪洪军 ,  刘鑫涛 ,  董伟 ,  安保林

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明提出一种基于层析成像的双向反射分布函数(BRDF)高精度测量方法与系统，属于双向反射分布函数测量技术领域，用于材料不同照明和探测角度的反射光谱分布测量。现有BRDF测量方法普遍受到探测光路通光口径大小的影响，高空间分辨率和高信号信噪比不可兼得。本发明采用层析成像与BRDF相结合的方式，使BRDF测量的空间分辨率不再依赖于通光孔径大小，同时获得高空间分辨率和高信号信噪比。具体测量时，将被测曲面划分为离散网格，利用光线追迹的方式计算探测信号与离散网格间的灵敏度矩阵，然后利用基于灵敏度矩阵的层析成像方法，实现具有离散网格相同分辨率的BRDF重建。该方法与系统实现了BRDF的完备测量，在材料光学参数测量方面具有广阔应用前景。

公开(公告)号：CN119509690A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411616095.X

申请日：2024-11-13

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 黄昂 ,  王景辉 ,  杨雪 ,  夏文涛 ,  马涛

IPC: G01J1/44

Abstract: 本文发明一种基于瑞利散射的微弱光探测器非线性测量及修正方法与系统，属于光学测量技术领域。微弱光探测器是用于探测极低光强的光信号装置，当其在低光强条件下工作，常常会表现出非线性响应，这能显著影响测量结果的准确性和稳定性。因此，进行非线性修正对保证测量数据的可靠性和可重复性至关重要。本发明搭建了基于瑞利散射的微弱光探测器非线性测量系统，利用高精度热电探测器测量入射激光功率，随后用微弱光探测器‑光电倍增管测量散射光功率。设定不同种激光入射功率，得到不同工况下的瑞利散射信号和入射光功率，利用入射激光功率测量值对散射光功率进行了修正。