公开(公告)号：CN119334474A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411463427.5

申请日：2024-10-18

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 黄昂 ,  董伟 ,  王景辉 ,  杨玉健 ,  安保林 ,  杨雪

IPC: G01J5/0802 ,  G01J5/08 ,  G01J5/02 ,  G01J5/10

Abstract: 本发明提出一种基于黑体辐射源的双向反射分布函数(BRDF)多光谱测量方法与系统，属于双向反射分布函数测量技术领域，用于材料不同波段和探测角度的反射光谱分布测量。现有BRDF测量方法普遍受到光源的限制，难以实现不同波段下BRDF分布测量。本发明采用黑体辐射源与滤光片相结合的方式，能够自主选取所需波段，使用两个凹面镜进行光路调整汇聚获得高信噪比，同时搭载六轴机械臂与环形导轨各自独立的运动系统获得高空间分辨率。具体测量时，将黑体辐射源升温至设定温度，通过两个凹面镜调整光路汇聚光束，利用不同滤光片选取对应的波段进行测量。该方法与系统实现了BRDF的完备测量，在材料光学参数测量方面具有广阔应用前景。