一种核应急131I核素测量装置及其远程校准方法

    公开(公告)号:CN114325798A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202210019163.9

    申请日:2022-01-06

    Abstract: 一种核应急131I核素测量装置及其远程校准方法,所述方法至少包括:在标准环境下:对131I核素进行至少两种距离条件的探测效率测量,和建立131I核素与第一参考核素的探测效率关系;在远程校准现场且在能量校准的条件下:测量已知活度的第一参考核素的其中一种距离条件的实测探测效率,并且基于所述探测效率关系确定131I核素在至少一种距离条件下的实测探测效率;比较131I核素的实测探测效率与对应的探测效率是否一致。本发明通过使用半衰期较长的参考核素和参考核素与131I核素的探测效率关系完成了131I核素测量装置的远程校准,不需要将高活度标准源运输至现场,解决了在现场校准时131I核素由于半衰期短,不易保存的问题。

    一种在线α组合探测器
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116794709A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202310404010.0

    申请日:2023-04-17

    Abstract: 本发明的在线α组合探测器,集成了ZnS(Ag)探测器和PIPS(离子注入型钝化硅)探测器;ZnS(Ag)和PIPS对环境γ射线均不敏感,使得本发明装置不需要额外的屏蔽装置便具有较低的本底和探测下限;ZnS(Ag)对β射线也不敏感,再合理设置阈值,β射线对ZnS(Ag)的干扰可忽略不计;对于PIPS,β射线的能谱集中在低能区域,通过能谱分析算法或提高能谱阈值下限,也可排除β射线的干扰;如此,极大地降低了β和γ射线对组合探测器测量α粒子的影响,提高了对α粒子的探测精度;ZnS(Ag)探测器与多个PMT耦合,又进一步保证了探测效率;探测窗结构得益于独特的设计,易于更换,窗材料铝箔、钛箔和金箔灵活适配,探测器耐强酸强碱耐腐蚀,具备更广泛的使用场景。

    一种放射性表面污染测量装置及表面污染测量方法

    公开(公告)号:CN111538068B

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202010379861.0

    申请日:2020-05-07

    Abstract: 本发明涉及了一种放射性表面污染测量方法,至少包括以下步骤:利用包括典型核素的多个第一标准源来测试该辐射探测装置的同时存在α和β粒子时的α通道和β通道的响应特性;提供纯α粒子的第二标准源,用以确定α粒子在该辐射探测装置的β通道中的响应,由此预先确定该辐射探测装置的β通道对入射α粒子的响应系数;提供纯β粒子的第二标准源,用以确定β粒子在该辐射探测装置的β通道中的响应,由此预先确定该辐射探测装置的β通道对入射β粒子的响应系数;用α通道计数率除以α通道响应系数得到α表面污染;用β通道计数率扣除α粒子计数率乘以优化的β通道对α粒子的响应系数,再除以β粒子响应得到β表面污染。

    一种电离室测氡系统及探测装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116299635A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310314325.6

    申请日:2023-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种电离室测氡系统及探测装置。电离室测氡系统至少包括探测装置、屏蔽装置、信号处理模块、计算分析模块、环境参数探测模块和人机交互模块。探测装置基于电离室测氡的原理,通过增大电离室的有效探测体积,使更多的氡气体进入探测装置,提升测量灵敏度。本发明的电离室测氡系统可提高工作级测氡仪在环境量级氡浓度条件下的校准准确度,亦可用于低本底地下实验室等特殊环境的极低氡浓度本底监测与污染控制,具有测量灵敏度高、分辨率好、不确定度小、测量准确度高等优点。

    一种放射性表面污染测量装置及表面污染测量方法

    公开(公告)号:CN111538068A

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN202010379861.0

    申请日:2020-05-07

    Abstract: 本发明涉及了一种放射性表面污染测量方法,至少包括以下步骤:利用包括典型核素的多个第一标准源来测试该辐射探测装置的同时存在α和β粒子时的α通道和β通道的响应特性;提供纯α粒子的第二标准源,用以确定α粒子在该辐射探测装置的β通道中的响应,由此预先确定该辐射探测装置的β通道对入射α粒子的响应系数;提供纯β粒子的第二标准源,用以确定β粒子在该辐射探测装置的β通道中的响应,由此预先确定该辐射探测装置的β通道对入射β粒子的响应系数;用α通道计数率除以α通道响应系数得到α表面污染;用β通道计数率扣除α粒子计数率乘以优化的β通道对α粒子的响应系数,再除以β粒子响应得到β表面污染。

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