一种放射性惰性气体活度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN114740520A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210249395.3

    申请日:2022-03-14

    Abstract: 本发明涉及一种惰性气体放射性活度测量装置,包括刻度装置,所述刻度装置包括取样罐、气体循环泵、惰性气体监测仪和高纯锗谱仪气罐,刻度装置利用85Kr标准源对探测器进行β活度响应刻度采用气体混合的方式结合高纯锗γ谱仪对85Kr气体的效率刻度结果实现85Kr气体的活度浓度确定,所述85Kr气体的活度浓度确定包括:利用气体循环泵将取样罐内的85Kr标准气体源与回路其余部分的空气相混合,待混合均匀后,采用高纯锗γ谱仪对取样罐内γ射线进行测量,结合高纯锗γ谱仪对85Kr特征γ射线的探测效率ε计算气罐内85Kr气体体积活度值,该值亦为探测器采样空腔内85Kr气体的体积活度值。

    一种用于校准偏振度的非偏振射线源结构

    公开(公告)号:CN112859148A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110090368.1

    申请日:2019-09-26

    Abstract: 本发明涉及了一种用于校准偏振度的非偏振射线源结构,包括准直器、换源盘和彼此不同的至少两种放射源,其中,每种放射源均采用一种与至少两种放射源中其他放射源采用的放射性核素不同的放射性核素,以使得非偏振射线源中包含分别发送具有不同能量的非偏振的射线的至少两种放射性核素,所述换源盘能相对于所述准直器转动,换源盘的旋转方向垂直于或者大致垂直于准直器的准直方向,所述至少两种放射源彼此独立地沿换源盘的周向间隔设置,所述换源盘转动以将所述至少两种放射源中的其中一种放射源对准准直器以让对准准直器的放射源衰变产生的射线能经准直器准直后射出。

    一种基于CZT探测器的偏振度测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110687586A

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201911075569.3

    申请日:2019-11-05

    Abstract: 本发明涉及了一种基于CZT探测器的偏振度测量装置,包括CZT探测装置、射线发生装置和起偏装置,射线发生装置设置于环形移动台上,起偏装置设置于环形移动台中心,射线发生装置能够通过其在环形移动台上相对起偏装置进行转动的方式在保持其与起偏装置之间的距离不变的情况下改变其与起偏装置之间的相对角度,在偏振光传输至CZT探测装置的情况下,具有不同散射角的偏振光相对于弧形能谱探测模块所形成的入射角均相同,从而偏振度测量装置能够在满足具有不同散射角的偏振光在弧形能谱探测模块上具有相同的探测效率的条件下,以无需改变放射源与起偏装置之间的距离而保持在多次测量时放射源在空气传播过程中损耗的能量相一致的方式进行多次偏振度测量。

    一种基于阳性指数的幽门螺杆菌检测系统及方法

    公开(公告)号:CN117233365A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311195656.9

    申请日:2023-09-15

    Abstract: 本发明涉及一种基于阳性指数的幽门螺杆菌检测系统及方法。系统至少包括检测单元和计算单元。在计数值达到目标阈值的情况下,基于待测样品与临界标准样品测量时间之比值来确定待测样品的阳性指数,基于阳性指数和预设检测阈值确定待测样品的检测结果属性。本发明的阳性指数是以比值的方式计算的,相较于常规的差值法,能够减少大量离散数值带来的不确定性影响。基于本方案的比值算法,结合实验证明,能够显著减小弱阳性或弱阴性情况所导致的结果不确定性,因为在基于比值算法以及精心设计的阴阳性分界线的判断算法下,样品计数值本身的差异被简化抽象为判断相对多少的定性参数,显著提升测量结果的稳定度和准确性。

    一种基于β-γ符合的探测系统及方法

    公开(公告)号:CN114740521A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210249379.4

    申请日:2022-03-14

    Abstract: 本发明涉及一种基于β‑γ符合的探测系统及方法,其包括:用于与射线发生相互作用并产生信号波形的探测模块,用于采集探测模块上的信号波形的信号采集模块,用于对信号波形进行脉冲形状甄别以处理β‑γ符合信号的分析模块。探测模块至少包括第一闪烁体和包覆于第一闪烁体设置的第二闪烁体;其中,第一闪烁体用于测量β射线;第二闪烁体用于测量γ射线。第一闪烁体被配置为能够沉积β射线的全部能量并允许γ射线穿透第一闪烁体到达第二闪烁体,以使探测模块能够基于第一闪烁体的短发光衰减时间以及第二闪烁体的长发光衰减时间实现β、γ射线的独立测量以及β‑γ符合测量。

    一种基于CZT探测器的偏振度测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110687586B

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN201911075569.3

    申请日:2019-11-05

    Abstract: 本发明涉及了一种基于CZT探测器的偏振度测量装置,包括CZT探测装置、射线发生装置和起偏装置,射线发生装置设置于环形移动台上,起偏装置设置于环形移动台中心,射线发生装置能够通过其在环形移动台上相对起偏装置进行转动的方式在保持其与起偏装置之间的距离不变的情况下改变其与起偏装置之间的相对角度,在偏振光传输至CZT探测装置的情况下,具有不同散射角的偏振光相对于弧形能谱探测模块所形成的入射角均相同,从而偏振度测量装置能够在满足具有不同散射角的偏振光在弧形能谱探测模块上具有相同的探测效率的条件下,以无需改变放射源与起偏装置之间的距离而保持在多次测量时放射源在空气传播过程中损耗的能量相一致的方式进行多次偏振度测量。

    一种串级批量制备电镀源的方法

    公开(公告)号:CN110373688B

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN201910698758.X

    申请日:2019-07-30

    Abstract: 本发明涉及一种串级批量制备电镀源的方法,至少包括如下步骤:制备电沉积液并将置于电镀槽(1)中,所述电沉积液至少由放射源溶液和Na2SO4溶液按照设定的比例进行混合的方式制成;配置电镀参数,所述电镀参数至少包括电流、电压以及阴极(2)与阳极(3)之间的距离;电镀槽(1)通电以使得所述电沉积液在所述阴极(2)与阳极(3)之间形成电沉积处理;所述方法还包括如下步骤:在电沉积处理时间大于第一设定时间的情况下,向电镀槽(1)中加入设定量的氨水,并且在电沉积处理时间大于第二设定时间的情况下,将电镀槽(1)中的电镀余液排出。

    一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法及装置

    公开(公告)号:CN111380879A

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN202010248051.1

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明涉及一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法,至少包括如下步骤:配置放射源和探测器,在所述放射源和所述探测器之间设置用于放置待检测样品的空样品盒,使得放射源产生的放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入所述探测器,并促使所述探测器生成第一数据,在所述放射源和所述探测器之间设置待检测样品,使得放射源产生的放射性射线在沿所述设定方向传输时,能够按照穿透所述待检测样品的方式进入所述探测器,并促使所述探测器生成第二数据;基于所述第一数据获取第一计数率n1(E),基于所述第二数据获取第二计数率n2(E),使得待检测样品对放射源的质量衰减系数μm(E)能够通过公式 进行表示,其中h为待检测样品的厚度。

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